管道超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)解析

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1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-----傾情為你奉上 1. 一般要求： 1.1. 主題內(nèi)容與適用范圍 1.1.1. 本規(guī)程規(guī)定了超聲波檢測(cè)人員的資格、所使用的儀器探頭試塊、檢測(cè)范圍、方法和質(zhì)量分級(jí)，檢測(cè)工藝和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。 1.1.2. 本規(guī)程采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀對(duì)鋼板、全焊透熔化焊對(duì)接接頭和管座角接接頭及鍛件的超聲波檢測(cè)。 1.1.3. 本規(guī)程依據(jù)JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)的要求編寫。符合《壓力管道安全管理與監(jiān)察規(guī)定》的要求。 1.1.4. 檢測(cè)工藝卡是本規(guī)程的補(bǔ)充。檢測(cè)時(shí)由UTII級(jí)人員按圖樣規(guī)定、依據(jù)委托單和本規(guī)程的要求編寫。其參數(shù)規(guī)定的更具體。 2. 檢測(cè)人員資格： 2.1

2、. 無損檢測(cè)人員必須經(jīng)過技術(shù)培訓(xùn)，并按《特種設(shè)備無損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求取得相應(yīng)的無損檢測(cè)資格。 2.2. 從事超聲波檢測(cè)的人員，須持有UTII級(jí)以上的資格證書，并負(fù)相應(yīng)的技術(shù)責(zé)任。 3. 引用標(biāo)準(zhǔn)： 下列文件中的條款通過JB/T4730的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分。然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。 JB/T4730.1 承壓設(shè)備無損檢測(cè) 第一部分：通用要求 JB/T7913-1995

3、 超聲波檢測(cè)用鋼制對(duì)比試塊的制作與校驗(yàn)方法 JB/T9214-1999 A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法 JB/T10061-1999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件 JB/T10062-1999 超聲波探傷用探頭性能測(cè)試方法 JB/T10063-1999 超聲波探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件 4. 探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能 4.1. 探傷儀 4.1.1. 探傷儀現(xiàn)采用A型脈沖反射式汕頭CTS-22、CTS-26型模擬和北京QKS-958數(shù)字式超聲波探傷儀。 4.1.2. 探傷儀應(yīng)滿足工作頻率范圍0.5MHz-10MHz，儀器至少

4、在熒光屏滿刻度80%范圍內(nèi)呈線性顯示，探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB的誤差在±1dB以內(nèi)，最大累積誤差不超過1dB。水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%。其于指標(biāo)應(yīng)符合JB/T10061的規(guī)定。 4.2. 探頭 4.2.1. 晶片面積一般不應(yīng)大于500㎜2，且任一邊長(zhǎng)原則上不大于25㎜。 4.2.2. 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2%，主聲束垂直方向上不應(yīng)有明顯的雙峰。 4.3. 探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能 4.3.1. 在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。 4.3.2. 儀器和探

5、頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于±10%。 4.3.3. 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHz的探頭，寬度≯10㎜；對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，寬度≯15㎜。 4.3.4. 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)≮30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)≮6dB。 4.3.5. 探傷議和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T9214和JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。 5. 超聲波檢測(cè)一般方法 5.1. 檢測(cè)前準(zhǔn)備； 超聲波檢測(cè)的時(shí)機(jī)及抽檢率等應(yīng)按《壓力管道規(guī)范 工業(yè)管道》GB/T20801-2006 5.1.1. 及設(shè)計(jì)要求執(zhí)行。 5.1.2. 所確定檢測(cè)面應(yīng)保證工件受檢部分均能得

6、到充分檢查。 5.1.3. 焊縫表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格，并確認(rèn)。不得有影響超聲波檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物，其表面粗糙度應(yīng)滿足檢測(cè)要求。表面不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測(cè)的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼? 5.2. 掃查覆蓋率： 為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。 5.3. 探頭的移動(dòng)速度：探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。 5.4. 掃查靈敏度：掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度。 5.5. 耦合劑：采用透聲性良好，且不損傷檢測(cè)面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水。 5.6. 靈敏度補(bǔ)償： 5.6.1. 耦合補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺

7、陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。 5.6.2. 衰減補(bǔ)償。在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材料衰減引起的靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。 5.6.3. 曲面補(bǔ)償。對(duì)探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。 6. 系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核 一般要求： 6.1. 系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)時(shí)應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。 6.2. 儀器校準(zhǔn) 每隔三個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定，測(cè)定方法按JB/T10061的規(guī)定執(zhí)行。 6.3. 新購探頭的測(cè)定 新購探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說明書，

8、新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離角、靈敏度余量和分辨力等參數(shù)的測(cè)定。測(cè)定應(yīng)按JB/T10062的規(guī)定進(jìn)行，并滿足其要求。 6.4. 檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定： 6.4.1. 使用儀器—斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 6.4.2. 使用儀器—直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 6.5. 檢測(cè)過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 遇有下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核： 6.5.1. 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生變化時(shí)； 6.5.2. 檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)

9、； 6.5.3. 連續(xù)工作4h以上時(shí)； 6.5.4. 工作結(jié)束時(shí)。 6.6. 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 6.6.1. 每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。 6.6.2. 每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離——波幅曲線的校核不少于三點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2 dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。 6.7. 校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng) 校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器

10、線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。 7. 試塊 7.1. 標(biāo)準(zhǔn)試塊 7.1.1. 標(biāo)準(zhǔn)試塊是指本部分規(guī)定的用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊，本部分采用的試塊有： （a） 鋼板用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CBI、CBⅡ； （b） 鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSI、CSⅡ、CSⅢ； （c） 焊接接頭用標(biāo)準(zhǔn)試塊：CSK-IA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA； 7.1.2. 標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)采用與被檢工件聲學(xué)性能相同或相近似的材料制成，該材料用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有≥φ2㎜平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。 7.1.3. 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合本部分的要求，并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門檢定合格。 7.

11、1.4. 標(biāo)準(zhǔn)試塊的其它制造要求應(yīng)符合JB/T10063和JB/T7913的規(guī)定 7.2. 對(duì)比試塊 7.2.1. 對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。 7.2.2. 對(duì)比試塊的外型尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同部件焊接接頭的檢測(cè)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來確定。 7.2.3. 對(duì)比試塊反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本部分的規(guī)定。 8. 承壓設(shè)備用鋼板超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) 8.1. 范圍 本條適用于板厚為6mm-250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。 8.2. 探頭選用 8.2.1. 探頭選

12、用應(yīng)按表一的規(guī)定執(zhí)行。 8.2.2. 雙晶直探頭性能應(yīng)符合JB/T4730-2005附錄A（規(guī)范性附錄）的要求。 表1. 承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)探頭選用 板 厚 mm 采 用 探 頭 公稱頻率 MHz 探 頭 晶 片 尺 寸 6～20 雙晶直探頭 5 晶片面積≮150mm2 ＞20～40 單晶直探頭 5 φ14mm—φ20mm ＞40～250 單晶直探頭 2.5 φ20mm—φ25mm 8.3. 標(biāo)準(zhǔn)試塊 8.3.1. 用雙晶直探頭檢測(cè)厚度≯20mm的鋼板時(shí)，采用如圖1所示的CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊。 8.3.2. 用單晶直探頭檢測(cè)厚度＞20mm的鋼板時(shí)C

13、BⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖2和表2的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近似。如經(jīng)合同雙方協(xié)商同意，也可采用雙晶直探頭進(jìn)行檢測(cè)。 表2 CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊 mm 試塊編號(hào) 被檢鋼板厚度 檢測(cè)面到平底孔的距離 s 試塊厚度 T CBⅡ-1 ＞20-40 15 ≥20 CBⅡ-2 ＞40-60 30 ≥40 CBⅡ-3 ＞60-100 50 ≥65 CBⅡ-4 ＞100-160 90 ≥110 CBⅡ-5 ＞160-200 140 ≥170 CBⅡ-6 ＞200-250 190 ≥220 8.4. 基準(zhǔn)靈敏度

14、8.4.1. 板厚不大于20mm時(shí)，用CBI試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。 8.4.2. 板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CBⅡ試塊φ5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度。 8.4.3. 板厚不小于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，也可取鋼板無缺陷完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與8.4.2.的要求相一致。 8.5. 檢測(cè)方法 8.5.1. 檢測(cè)面 可選用鋼板的任一扎制表面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選用鋼板的上、下扎制表面分別進(jìn)行檢測(cè)。 8.5.2. 耦合方式 耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。

15、 8.5.3. 掃查方式 （a）探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于100mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板刨口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查示意圖見圖3。 （b）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其它形式的掃查。 8.6. 缺陷的測(cè)定和記錄 8.6.1. 在檢測(cè)過程中，發(fā)現(xiàn)下列情況之一即作為缺陷： （a） 缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%，即F1≥50%。 （b） 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未

16、達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%，即B1＜100%，而F1/B1≥50%。 （c） 底面第一次反射波（B1）波高低于滿刻度的50%，即B1＜50%。 8.6.2. 缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法 （a） 檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺陷的范圍。 （b） 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)， 探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺

17、陷的邊界點(diǎn),兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 （c） 用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷第一次反射波波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比為50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 （d） 確定8.6.1.（c）中缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭使（單直探頭或雙晶直探頭）底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。 （e） 當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次

18、底波來評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來校準(zhǔn)。 8.7. 缺陷的評(píng)定方法 8.7.1. 缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則 單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于40mm時(shí)，可不作記錄。 8.7.2. 單個(gè)缺陷的指示面積的評(píng)定規(guī)則 （a） 一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積。 （b） 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，以各個(gè)缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷面積。 （c） 指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表3。 i. 缺陷面積百分比的評(píng)定規(guī)則 在任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定。

19、如鋼板面積小于1m×1m，可按比例折算。 8.8. 鋼板質(zhì)量分級(jí) 8.8.1. 鋼板質(zhì)量分級(jí)見表3。 8.8.2. 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（板厚大于100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。 表3 鋼板質(zhì)量分級(jí) 等級(jí) 單個(gè)缺陷 指示長(zhǎng)度 mm 單個(gè)缺陷 指示長(zhǎng)度 cm2 在任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺陷面積百分比 % 以下單個(gè)缺陷 指示面積不計(jì) cm2 Ⅰ ＜80 ＜25 ≤3 ＜9 Ⅱ ＜100 ＜50 ≤5 ＜15 Ⅲ ＜120 ＜100 ≤10 ＜25 Ⅳ ＜150

20、 ＜100 ≤10 ＜25 Ⅴ 超過Ⅳ級(jí)者 8.8.3. 在檢測(cè)過程中，檢測(cè)人員確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。 8.9. 橫波檢測(cè) 8.9.1. 在檢測(cè)過程中對(duì)缺陷有疑問或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用橫波檢測(cè)。 8.9.2. 鋼板橫波檢測(cè)應(yīng)按JB/T4730-2005附錄B（規(guī)范性附錄）進(jìn)行。 9. 承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) 9.1. 范圍 本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。 本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲波檢測(cè)，也不適用于內(nèi)外經(jīng)之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測(cè)。

21、9.2. 探頭 雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz。探頭晶片面積不小于150mm2；單晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用2MHz～5MHz，探頭晶片一般為φ14mm～φ25mm。 9.3. 試塊 應(yīng)符合7.的規(guī)定。 9.3.1. 單直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊 采用CSI試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4和表4的規(guī)定。如確有需要也可采用其它形式的對(duì)比試塊。 9.3.2. 雙晶直探頭試塊 表4 CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸 mm 試塊 序號(hào) 孔徑 檢測(cè)距離 L 1 2 3 4 5 6 7 8 9 CSⅡ-1 φ 5 10 15 20 25 30 35

22、 45 45 CSⅡ-2 φ CSⅡ-3 φ CSⅡ-4 φ （a）工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊。 （b）工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊。 （c）CSII試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表4的規(guī)定。 9.3.3. 檢測(cè)面是曲面是，應(yīng)采用CSⅢ標(biāo)準(zhǔn)試塊來測(cè)定由于曲率不同引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖6所示。 9.4. 檢測(cè)時(shí)機(jī) 檢測(cè)原則上應(yīng)安排在熱處理后，孔、臺(tái)等結(jié)構(gòu)機(jī)加工前進(jìn)行，檢測(cè)面的表面粗糙度Re≤6.3μm。 9.5. 檢測(cè)方法 9.5.1. 一般原則

23、 鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)，對(duì)筒型和環(huán)型鍛件還應(yīng)增加橫波檢測(cè)。 9.5.2. 縱波檢測(cè) （a）原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè)，盡可能地檢測(cè)到鍛件的全體積。主要檢測(cè)方向 如圖7所示。其他形式的鍛件也可參照?qǐng)?zhí)行。 （b）鍛件厚度超過400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端進(jìn)行100%掃查。 9.5.3. 橫波檢測(cè) 鋼鍛件橫波檢測(cè)應(yīng)按JB/T4730-2005附錄C（規(guī)范性附錄）的要求進(jìn)行。 9.6. 靈敏度的確定 9.6.1. 單直探頭基本靈敏度的確定 當(dāng)被檢部位的厚度≥探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，且探測(cè)面與底 面平行時(shí)，原則上可采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小

24、于探頭的3倍近長(zhǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。 9.6.2. 雙晶直探頭基本靈敏度的確定 使用CSII試塊，依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的φ3mm平底孔（至少3個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離--波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。 9.6.3. 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離處的φ2mm平底孔當(dāng)量直徑。 9.7. 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定 9.7.1. 在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（B1或Bn）為滿刻度的50%， 記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度（B2或Bm）為滿刻度

25、的50%，兩次調(diào)節(jié)衰減器讀數(shù)之差即為（B1、B2）或（Bn、Bm）的dB差值（不考慮底面反射損失）。 9.7.2. 衰減系數(shù)（T＜3N，且滿足n＞3N/T，m=2n＝按式（1）計(jì)算： α=[（Bn-Bm）－6]/2（m-n）T ……（1） 式中： α－衰減系數(shù)，dB/m（單程）； （Bn-Bm）－兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB； T－工件檢測(cè)厚度，mm； N－單直探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，mm； m、n－底波反射次數(shù)。 9.7.3. 衰減系數(shù)（T≥3N）按式（2）計(jì)算 α=[（B1-B2）－6]/2T

26、 ……（2） 式中： （B1-B2）－兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB； 其余符號(hào)意義同式（1）。 9.7.4. 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。 9.8. 缺陷當(dāng)量的確定 9.8.1. 被檢缺陷的深度大于或等于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量。對(duì)于3倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離-波幅曲線來確定缺陷當(dāng)量，也可采用其它等效方法來確定。 9.8.2. 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過4dB，應(yīng)考慮修正。 9.9. 缺陷記錄 9.9.1. 記錄缺陷當(dāng)量直徑超過φ4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置。 9.9.2. 密集區(qū)缺陷：

27、記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和缺陷分布。 餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于φ4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其他鍛件應(yīng)記錄大于或等于φ3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)。缺陷密集區(qū)面積以50mm×50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6dB法決定。 9.9.3. 底波降低量應(yīng)按表6的要求記錄。 表5 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級(jí) dB 等級(jí) Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 底波降低量 BG/BF ≤8 ＞8～14 ＞14～20 ＞20～26 ＞26 注：本表僅適用于聲程大于近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的缺陷 9.9.4. 衰減系數(shù) 9.10. 質(zhì)量分級(jí)等級(jí)評(píng)定 9.10.1.

28、 單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級(jí)見表6。 9.10.2. 缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級(jí)見表5。 9.10.3. 缺陷密集區(qū)質(zhì)量分級(jí)見表7。 9.10.4. 表5、表6、和表7的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。 表6 單 個(gè) 缺 陷 的 質(zhì) 量 分 級(jí) mm 等級(jí) Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 缺陷當(dāng)量直徑 ≤φ4 φ4+（＞0dB-8dB） φ4+（＞8Db-12dB） φ4+（＞12Db-16dB） ＞φ4+16dB 表7 密集區(qū)缺陷的質(zhì)量分級(jí) 等 級(jí) Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ

29、 Ⅴ 密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積的% 0 ＞0-5 ＞5-10 ＞10-20 ＞20 9.10.5. 當(dāng)缺陷被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級(jí)為V級(jí)。 10. 鋼制承壓設(shè)備對(duì)接接頭超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。 10.1. 適用范圍 10.1.1. 本條規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備對(duì)接接頭的超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)。 10.1.2. 本條適用于母材厚度為8mm-120mm全熔化焊對(duì)接接頭的超聲波檢測(cè)。母材厚度為6mm-8mm全熔化焊對(duì)接接頭的超聲波檢測(cè)應(yīng)按JB/T4703-2005附錄G（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件焊接接頭的超聲波檢測(cè)也可按本條的規(guī)定進(jìn)行。

30、10.1.3. 如確有需要，壁厚為4mm-6mm的環(huán)向?qū)咏宇^的超聲波檢測(cè)可參照J(rèn)B/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)，6.1進(jìn)行。 10.1.4. 本條不適用于鑄鋼件對(duì)接接頭、外徑小于159mm的鋼管環(huán)向?qū)咏宇^、內(nèi)徑小于200mm的管座角焊縫的超聲波檢測(cè)，也不適用于外徑小于250mm或內(nèi)外徑之比小于80%的縱向?qū)咏宇^超聲波檢測(cè)。 10.2. 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí) 10.2.1. 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)分為A、B、C三個(gè)級(jí)別。超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。 10.2.2. 不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的要求 10.2.2.1. “A”級(jí)

31、僅適用于母材厚度為8mm-46mm的對(duì)接焊接接頭?？捎靡环NK值探頭采用直射波法和一次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。 10.2.2.2. “B”級(jí)檢測(cè)： （a） 母材厚度為8mm-46mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。 （b） 母材厚度大于46mm至120mm時(shí)，一般用一種K值探頭采用直射波法在對(duì)接焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K值探頭進(jìn)行檢測(cè)。 （c） 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí)，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成10°-

32、20°作兩個(gè)方向的斜平行掃查，見圖12。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見圖13。 10.2.2.3. “C”級(jí)檢測(cè) 采用C級(jí)檢測(cè)時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，對(duì)焊接接頭兩側(cè)探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要用直探頭進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)方法見JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)5.1.4.4。 （a） 母材厚度為8mm-46mm時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10°，其中一個(gè)折射角應(yīng)為45°。 （b） 母材厚度大于46mm至120mm時(shí)，一般用兩種K值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)

33、。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于10°。對(duì)于單側(cè)坡口角度小于5°的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對(duì)檢測(cè)與坡口表面平行缺陷的有效檢測(cè)方法。 （c） 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí)，將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上兩個(gè)方向的平行掃查，見圖13。 10.3. 試塊 10.3.1. 試塊的制作應(yīng)符合JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)3.5的規(guī)定。 10.3.2. 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-IA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA和CSK-ⅣA。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖14、圖15、圖16、圖17和表8的規(guī)定。 10.3.3. CSK-IA、CSK-ⅡA和CSK-ⅢA試塊適用壁厚范圍為6mm-

34、120mm的焊接接頭，CSKI-IA和CSK-IVA系列試塊適用壁厚范圍大于120mm-400mm的焊接接頭。在滿足靈敏度要求時(shí)，試塊上的人工反射體根據(jù)檢測(cè)需要可采取其他布置形式或添加，也可采用其他型式的等效試塊。 表8 CSK-IVA試塊尺寸 mm CSK-IV 被檢工件厚度 對(duì)比試塊厚度T 標(biāo)準(zhǔn)孔位置b 標(biāo)準(zhǔn)孔直徑d No.1 ＞120-150 135 T/4、T/2 6.4（1/4in） No.2 ＞150-200 175 T/4、T/2 7.9（5/16in） No.3 ＞200-250

35、 225 T/4、T/2 9.5（3/8in） No.4 ＞250-300 275 T/4、T/2 11.1（7/16in） No.5 ＞300-350 325 T/4、T/2 12.7（1/2in） No.6 ＞350-400 375 T/4、T/2 14.3（9/16in） 10.3.4. 檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑R≤W2/4時(shí)（W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度），應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊，反射孔的位置可參照標(biāo)準(zhǔn)試塊確定。試塊寬度b一般應(yīng)滿足： b≥2λS/D0………………………………（3） 式中：

36、 b－試塊寬度，mm； λ－超聲波波長(zhǎng)，mm； S－聲程，mm； D0－聲源有效直徑，mm。 10.4. 檢測(cè)準(zhǔn)備 10.4.1. 檢測(cè)面 （a）檢測(cè)區(qū)的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為5mm，最大為10mm，見圖18。 （b）探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺物、鐵屑、油垢及其他雜物。檢測(cè)表面應(yīng)平整，便于探頭的掃查，其表面粗糙度Re值應(yīng)小于或等于6.3μm，一般應(yīng)進(jìn)行打磨。

37、 （1）采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于或等于1.25P： P=2TK……………………………………（4）或 P=2Ttanβ………………………………（5） 式中： P－跨距，mm； T－母材厚度，mm； K－探頭K值； β－探頭折射角，（°）。 （2）采用直反射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于或等于0.75P。 去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊、較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?，并作圓滑過度以免影響檢測(cè)結(jié)果的評(píng)定。 10.4.2.

38、 探頭K值（角度） 斜探頭的K值（角度）選取可參照表9的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大K值探頭。 表9 推薦采用的斜探頭K值 板厚T，mm K值 6～25 3.0-2.0（72°～60°） ＞25～46 2.5-1.5（68°～56°） ＞46～120 2.0-1.0（60°～45°） ＞120～400 2.0-1.0（60°～45°） 10.4.3. 檢測(cè)頻率 檢測(cè)瀕率一般為2MHz-5MHz。 10.4.4. 母材的檢測(cè) 對(duì)于C級(jí)檢測(cè)，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測(cè)，以便檢測(cè)是否有影響斜探頭檢測(cè)結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄

39、，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè)。母材檢測(cè)的要點(diǎn)如下： （a）檢測(cè)方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率2MHz-5MHz的直探頭，晶片直徑10mm-25mm。 （b）檢測(cè)靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%。 （c）凡缺陷信號(hào)幅度超過熒光屏滿刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。 10.5. 距離-波幅曲線的繪制 10.5.1. 距離-波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量線、判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為Ⅱ區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)棰髤^(qū)，如圖10所示。如果距離-波幅曲線

40、繪制在熒光屏上，則在檢測(cè)范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的20%。 10.5.2. 距離-波幅曲線的靈敏度選擇 （a）壁厚為6mm-120mm的焊接接頭，其距離-波幅曲線靈敏度按表10的規(guī)定。 （b）壁厚為6mm-120mm的焊接接頭，其距離-波幅曲線靈敏度按表10的規(guī)定。 （c）檢測(cè)橫向缺陷時(shí)應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB。 （d）檢測(cè)面曲率半徑R≤W2/4時(shí)，距離-波幅曲線的繪制應(yīng)在檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊上進(jìn)行。 （e）工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)按JB/T4730-2005附錄F（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行傳輸損失補(bǔ)償。在一跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差小于或等于2dB時(shí)可不

41、進(jìn)行補(bǔ)償。 （f）掃查靈敏度不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度。 表10 距離-波幅曲線的靈敏度 試塊型式 板厚 mm 評(píng)定線 定量線 判廢線 CSK-IIA 6-46 ＞46-120 φ2×40-18dB φ2×40-14dB φ2×40-12dB φ2×40-8dB φ2×40-4dB φ2×40+2dB CSK-IIIA 8-15 ＞15-46 ＞46-120 φ1×6-12dB φ1×6-9dB φ1×6-6dB φ1×6-6dB φ1×6-3dB φ1×6dB φ1×+2dB φ1×+5dB φ1×+10d

42、B 10.6. 檢測(cè)方法 10.6.1. 平板對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè) （a）為檢測(cè)縱向缺陷，斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測(cè)面上，作鋸齒型掃查，見圖20。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面，在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作10°-15°的左右移動(dòng)，不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)對(duì)縱向缺陷的檢測(cè)要求見10.2.。 （b）不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)對(duì)橫向缺陷的檢測(cè)要求見10.2.。 （c）對(duì)電渣焊焊接接頭還應(yīng)增加與焊縫中心線成45°的斜向掃查。 （d）為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào)，確定的位置、方向和形狀，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，見圖21。

43、 10.6.2. 曲面工件（直徑小于或等于500mm）對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè) （a）檢測(cè)面為曲面時(shí)，可盡量按平板對(duì)接焊接接頭的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)于受幾何形狀限制，無法檢測(cè)的部位應(yīng)予以記錄。 （b）縱縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與檢測(cè)面曲率半徑之差應(yīng)小于10%。 ⑴根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭。 ⑵探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和K值的變化，并用曲率試塊作實(shí)際測(cè)定。 ⑶應(yīng)注意熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長(zhǎng)的差異，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。 （

44、c）環(huán)縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測(cè)面曲率半徑的0.9-1.5倍。 10.6.3. 管座角焊縫的檢測(cè) （a）一般原則 在選擇檢測(cè)面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該焊接接頭結(jié)構(gòu)的主要缺陷。 （b）檢測(cè)方式 根據(jù)結(jié)構(gòu)形式，管座角焊縫的檢測(cè)有如下五種檢測(cè)方式，可選擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢測(cè)。檢測(cè)方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定，并應(yīng)考慮主要檢測(cè)對(duì)象和幾何條件的限制。 （1）在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測(cè)，見圖22位置1。 （2）在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測(cè)，見圖23位置1。在容器內(nèi)壁采用斜探頭檢測(cè)，見圖22位置4。 （3）在接管外壁采用斜探頭檢測(cè)，見圖23位置

45、2。 （4）在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測(cè)，見圖22位置3和見圖23位置3。 （5）在容器外壁采用斜探頭檢測(cè)，見圖22位置2。 （c）管座角焊縫以直探頭檢測(cè)為主必要時(shí)應(yīng)增加斜探頭檢測(cè)的 內(nèi)容。探頭頻率、尺寸應(yīng)按JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)4和5.1.4的規(guī) 定執(zhí)行，管座角焊縫斜探頭的距離-波幅曲線靈敏度按表10的規(guī) 定，直探頭的距離-波幅曲線靈敏度按表11的規(guī)定。距離-波幅 曲線的制作祥見JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)5.1.5.1。 表11 管座角焊縫直探頭距離-波幅曲線的靈敏度 評(píng)定線

46、 定量線 判廢線 φ2㎜平底孔 φ3㎜平底孔 φ6㎜平底孔 10.6.4. T型焊接接頭的超聲檢測(cè) （a）適用范圍 本條適用于厚度為6mm-50mm的鍋爐、壓力容器全熔化焊T型焊接接頭的超聲檢測(cè)。其他用途的全熔化焊T型焊接接頭的超聲檢測(cè)也可參照本條的規(guī)定執(zhí)行。 （b）基本原則 在選擇檢測(cè)面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到檢測(cè)各類缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該類焊接接頭結(jié)構(gòu)的主要缺陷。 （c）檢測(cè)方式 根據(jù)焊接接頭結(jié)構(gòu)形式，T型焊接接頭的檢測(cè)有如下三種檢測(cè)方式，可選擇一種或幾種方式組合實(shí)施檢測(cè)。檢測(cè)方式選擇應(yīng)由合同雙方商定，并應(yīng)考慮主要檢測(cè)對(duì)象和幾何條件的限制。 （1）用斜探頭在翼

47、板外側(cè)用直射法進(jìn)行探測(cè)，見圖24位置1、圖25位置1和圖26位置1。 （2）用斜探頭在腹板一側(cè)用直射法或一次反射法進(jìn)行探測(cè)，見圖24位置2和位置4、圖25位置2和位置4、圖26位置2和位置4。 （3）用直探頭或雙晶直探頭在翼板外側(cè)沿焊接接頭探測(cè)，或者用斜探頭（推薦使用K1探頭）在翼板外側(cè)沿焊接接頭探測(cè)，見圖24位置3、圖25位置3和圖26位置3。位置3包括直探頭和斜探頭兩種掃查。 （d）斜探頭K值的確定 用斜探頭在翼板外側(cè)進(jìn)行探測(cè)時(shí)，推薦使用K1探頭；用斜探頭在腹板一側(cè)進(jìn)行探測(cè)時(shí)，探頭K值根據(jù)腹板厚度按表18進(jìn)行選擇。

48、 （a）距離-波幅曲線靈敏度的確定 用斜探頭探測(cè)時(shí)，距離-波幅曲線靈敏度應(yīng)以腹板厚度按表10確定；用直探頭探測(cè)時(shí)，距離-波幅曲線靈敏度應(yīng)以翼板厚度按表12確定。 表12 T型焊接接頭距離-波幅曲線的靈敏度 評(píng)定線 定量線 判廢線 φ2mm平底孔 φ3mm平底孔 φ4mm平底孔 （b）掃查方式： 直探頭和斜探頭的掃查按10.6的有關(guān)規(guī)定進(jìn)行。 （c）對(duì)缺陷進(jìn)行等級(jí)評(píng)定時(shí)，均以腹板厚度為準(zhǔn)。 10.7. 缺陷定量檢測(cè) 10.7.1. 靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。 10.7.2. 對(duì)所有反射波幅達(dá)到或超過定量線的缺陷均應(yīng)確定其位置、大反射波幅和缺陷當(dāng)量。

49、 10.7.3. 缺陷位置測(cè)定 缺陷位置測(cè)定應(yīng)以獲得缺陷最大反射波的位置為準(zhǔn)。 10.7.4. 缺陷最大反射波幅的測(cè)定 將探頭移至缺陷出現(xiàn)最大反射波信號(hào)的位置，測(cè)定波幅大小，并確定它在距離-波幅曲線中的區(qū)域。 10.7.5. 缺陷定量 應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量直徑φ或缺陷指示長(zhǎng)度ΔL。 （a）缺陷當(dāng)量直徑φ，用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢測(cè)，可用公式計(jì)算，距離-波幅曲線和試塊對(duì)比來確定缺陷當(dāng)量尺寸。 （b）缺陷指示長(zhǎng)度ΔL的檢測(cè)采用以下方法： （1）當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，且位于II區(qū)或II區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，用6dB法測(cè)量其指示長(zhǎng)度

50、。 （2）當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)，且位于II區(qū)或II區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，應(yīng)以端點(diǎn)6dB法測(cè)量其指示長(zhǎng)度。 （3）當(dāng)缺陷反射波峰位于I區(qū)，如 認(rèn)為有必要記錄時(shí)，將探頭左右移動(dòng)，使波幅降到評(píng)定線，以次測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度。 10.8. 缺陷評(píng)定 10.8.1. 超過評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷的特征，如有懷疑時(shí)，可采用改變K值、增加檢測(cè)面、觀察動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合工藝特征做出判定，如對(duì)撥型不能判斷時(shí)，應(yīng)輔以其它檢測(cè)方法作綜合判定。 10.8.2. 缺陷指示長(zhǎng)度小于10mm時(shí)，按5mm計(jì)。 10.8.3. 相鄰兩缺陷在一直線，其間距小于其中較小

51、的缺陷長(zhǎng)度時(shí)，應(yīng)作為一條缺陷處理，以兩缺陷長(zhǎng)度之和作為其指示長(zhǎng)度（間距不計(jì)入缺陷長(zhǎng)度）。 10.9. 質(zhì)量分級(jí) 焊接接頭質(zhì)量分級(jí)按表23的規(guī)定進(jìn)行。 11. 超聲檢測(cè)報(bào)告 超聲檢測(cè)報(bào)告至少應(yīng)包括以下內(nèi)容: （a）委托單位: （b）被檢工件:名稱、編號(hào)、規(guī)格、材質(zhì)、坡口型式、焊接方法和熱處理狀況; （c）檢測(cè)設(shè)備:探傷儀、探頭、試塊； （d）檢測(cè)規(guī)范:技術(shù)等級(jí)、探頭K值、探頭頻率、檢測(cè)面和檢測(cè)靈敏度； （e）檢測(cè)部位及缺陷的類型、尺寸、位置和分布應(yīng)在草圖上予以表明,如有應(yīng)幾何形狀限制而檢測(cè)不到的部位,也應(yīng)加以說明； （f） 檢測(cè)結(jié)果及質(zhì)量分級(jí)、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)名稱和驗(yàn)收等級(jí)； （g

52、） 檢測(cè)人員和責(zé)任人員簽字及其技術(shù)資格； （h） 檢測(cè)日期。 12. 資料保管 存檔資料應(yīng)包括:檢測(cè)委托單、工藝卡、原始紀(jì)錄、檢測(cè)報(bào)告、返修通知單、焊縫合格通知單，檢測(cè)資料保存7年。 表13 焊接接頭質(zhì)量分級(jí) 等級(jí) 板厚T 反射波幅 （所在區(qū)域） 單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度L 多個(gè)缺陷累計(jì)長(zhǎng)度L’ I 6-400 I 非裂紋類缺陷 6-120 Ⅱ L=T/3，最小為10，最大 不超過30 在任意9T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi)L’ 不超過T ＞120-400 L=T/3，最大不超過50 Ⅱ 6-120 Ⅱ L=2T/3，最小為12，最大 不超過40 在任意4.5T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi)L’不超過T ＞120-400 最大不超過75 Ⅲ 6-400 Ⅱ 超過II級(jí)者 超過II級(jí)者 Ⅲ 所有危害缺陷 Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ 裂紋等危害性缺陷 注1：母材板厚不同時(shí)，取薄板測(cè)厚度值。 注2：當(dāng)焊縫長(zhǎng)度不足9T（I級(jí)）或4.5T（II級(jí)）時(shí)，可按比例折算。當(dāng)折算后的缺陷累計(jì)長(zhǎng)度小于單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度時(shí)，以單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度為準(zhǔn)。 專心---專注---專業(yè)