射線檢測(cè)

1、第 6章 常 用 無(wú) 損 檢 測(cè) 方 法 第 二 章 射 線 檢 測(cè)第 一 節(jié) 射 線 檢 測(cè) 的 物 理 基 礎(chǔ) 知 識(shí) 第 二 節(jié) X射 線 檢 測(cè) 的 基 本 原 理 和 方 法第 三 節(jié) X射 線 照 相 檢 測(cè) 技 術(shù)第 四 節(jié) 。

2、第一部分 射線檢測(cè) 共： 690題 其中： 是非題 213題 選擇題 283題 問(wèn)答題 79題 計(jì)算題 115題一 是非題1.1 原子序數(shù)Z等于原子核中的質(zhì)子數(shù)量。 1.2 為了使原子呈中性，原子核中的質(zhì)子數(shù)必須等于核外的電子數(shù)。 1.3 。

3、第第7章章 射線數(shù)字成像檢測(cè)技術(shù)射線數(shù)字成像檢測(cè)技術(shù)主要內(nèi)容主要內(nèi)容1.常規(guī)膠片照相與數(shù)字射線照相常規(guī)膠片照相與數(shù)字射線照相2.圖像增強(qiáng)器的成像系統(tǒng)圖像增強(qiáng)器的成像系統(tǒng)3.線陣列線陣列DR技術(shù)技術(shù)4.平板探測(cè)器面陣列平板探測(cè)器面陣列DR技術(shù)。