VP02 真空吸附泵和真空吸附泵價(jià)格

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1、 VP02 真空吸附泵和真空吸附泵價(jià)格 * VP02真空吸附泵 標(biāo)題：VP02真空吸附泵 VP02是橢偏儀配套使用的通用微型真空吸附 泵。VP02與橢偏儀配合，用于把較薄的樣品 穩(wěn)定地吸附到樣品臺(tái)面上，對(duì)于傾斜放置的平 面樣品尤其重要。VP02采用通用真空泵部件， 具有獨(dú)立開關(guān)，操作方便。特點(diǎn)：吸附力強(qiáng)極 限壓力可達(dá)到-50KPa。壽命長(zhǎng)使用壽命可達(dá) 到5000h。噪聲低 噪聲小于40dB，采用獨(dú)特 的消聲管，可更安靜。體積小外形體積僅為： 130 x 79 x 206mm3。應(yīng)用： VP02 用于把較 薄的樣品穩(wěn)定地吸附到樣品臺(tái)面上，對(duì)于傾斜 放置的平面樣品尤其重要。VP02可與臺(tái)

2、式橢 偏儀配套使用。VP02也可單獨(dú)使用。技術(shù)指 標(biāo)：項(xiàng)目?jī)?nèi)容名稱微型真空吸附泵型號(hào) VP02極限壓力（KPa） -50抽氣速率 （1/min） ... 廠家：南北儀器 市場(chǎng)價(jià)格： 優(yōu)惠價(jià)格：百度 搜索聯(lián)系 * EX3自動(dòng)橢圓偏振 測(cè)厚儀 標(biāo)題：EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱 “零橢偏”）測(cè)量原理，針對(duì)納米 薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué) 儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導(dǎo)體 激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3 儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量，以及納米薄 膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。EX3儀器

3、還可 用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、 介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn)：經(jīng)典 消光法橢偏測(cè)量原理儀器采用消光法橢偏測(cè) 量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測(cè)量基本 原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式 采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。 緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)潔的儀 廠家：南北儀器 市場(chǎng)價(jià)格： 優(yōu)惠價(jià)格：百度 搜索聯(lián)系 器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便儀器 使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為 探測(cè)光… EX2自動(dòng)橢圓偏振測(cè) 厚儀 標(biāo)題：EX2自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 EX2自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱 “零橢偏&r

4、dquo;）橢偏測(cè)量原理，針對(duì) 納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型 教學(xué)儀器。EX2儀器適用于納米薄膜的厚度 測(cè)量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。 EX2儀器還可用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金 屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。 特點(diǎn)經(jīng)典消光法橢偏測(cè)量原理儀器采用消光 法橢偏測(cè)量原理，易于操作者理解和掌握橢偏 測(cè)量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放 置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的 取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì)， 簡(jiǎn)潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連， 方便使用。咼準(zhǔn)確性的激光光源米用激光作 為探測(cè)光波，測(cè)量波長(zhǎng)準(zhǔn)確度咼。豐富實(shí)用的 樣品測(cè)量功能可測(cè)量納

5、米薄膜的膜... 廠家：南北儀器 市場(chǎng)價(jià)格： 優(yōu)惠價(jià)格：百度 搜索聯(lián)系 ■ EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè) 厚儀 標(biāo)題：EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 EX3自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱 “零橢偏”）測(cè)量原理，針對(duì)納米 薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué) 儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導(dǎo)體 激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3 儀器適用于納米薄膜的厚度測(cè)量，以及納米薄 膜的厚度和折射率同時(shí)測(cè)量。EX3儀器還可 用于同時(shí)測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、 介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn)：經(jīng)典 消光法橢偏測(cè)量原理儀器采用消光法橢偏測(cè) 量原理，易

6、于操作者理解和掌握橢偏測(cè)量基本 廠家：南北儀器 市場(chǎng)價(jià)格： 優(yōu)惠價(jià)格：百度 搜索聯(lián)系 原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式 采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。 緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)潔的儀 器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便儀器 使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為 探測(cè)光… ETSys-Map-PV 在線 薄膜測(cè)量系統(tǒng) 標(biāo)題：ETSys-Map-PV在線薄膜測(cè)量系統(tǒng) ETSys-Map-PV是針對(duì)高端薄膜太陽電池研發(fā) 和質(zhì)量控制領(lǐng)域中大面積樣品檢測(cè)專門設(shè)計(jì)的 在線薄膜測(cè)量系統(tǒng)。ETSys-Map-PV用于對(duì) 1.4m * 1.1m及以上的大

7、面積薄膜太陽電池樣 品進(jìn)行在線檢測(cè)?？蓽y(cè)量光滑平面或粗糙表面 基底上的納米薄膜，包括單層或多層納米薄膜 樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；并 可同時(shí)測(cè)量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)ko 可測(cè)量樣品上指定區(qū)域的樣品參數(shù)以及樣品表 面的均一性分布。ETSys-Map-PV融合量拓科 技在高精度激光橢偏儀及光伏在太陽能電池領(lǐng) 域的先進(jìn)技術(shù)和產(chǎn)品設(shè)計(jì)方面的經(jīng)驗(yàn)，性能卓 越。特點(diǎn)：大面積絨面樣品上全表面測(cè)量可 對(duì)大面積絨面薄膜太陽電池樣品上各點(diǎn)的性質(zhì) 進(jìn)行分析和比較。先進(jìn)的光能量增強(qiáng)技術(shù)、低 噪聲的探測(cè)器件以及高信噪比的微弱信號(hào)處理 方法，實(shí)現(xiàn)了… 廠家：南北儀器 市場(chǎng)價(jià)格： 優(yōu)惠價(jià)格：百度 搜索聯(lián)系