超聲波檢測(cè)工藝標(biāo)準(zhǔn)規(guī)章

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1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-----傾情為你奉上 超聲波檢測(cè)工藝規(guī)程 1 適用范圍 1.1 本工藝適用于板厚為6-250mm的板材、碳素鋼和低合金鋼鍛件、母材壁厚8-400mm的全焊透熔化焊對(duì)接焊縫及壁厚大于等于4mm，管徑為57-1200mm碳素鋼和低合金石油天然氣長(zhǎng)輸、集輸和其他油氣管道環(huán)向?qū)雍缚p、鋼質(zhì)儲(chǔ)罐對(duì)接焊縫的超聲波檢測(cè)等。 1.2 本工藝規(guī)定了使用A型脈沖反射式超聲波探傷儀進(jìn)行檢測(cè)過程中，對(duì)受檢設(shè)備做出準(zhǔn)確判定應(yīng)遵循的一般程序和要求。 1.3 引用標(biāo)準(zhǔn) JB4730/T-2005《承壓設(shè)備無損檢測(cè)》 SY/T4109-2005《石油天然氣鋼質(zhì)管道無損檢測(cè)》 GB11345-89

2、《鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果的分級(jí)》 JB/T9214-1999《A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng) 測(cè)試方法》 JB/T10062-1999《超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法》 GB50128-2005《立式圓筒形鋼制焊接儲(chǔ)罐施工及驗(yàn)收規(guī)范》 2 對(duì)檢測(cè)人員的要求 2.1 從事超聲波檢測(cè)人員必須經(jīng)過培訓(xùn)，持證上崗。只有取得質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督部門頒發(fā)的超聲波檢測(cè)技術(shù)等級(jí)證書的人，方可獨(dú)立從事與該等級(jí)相應(yīng)的超聲波檢測(cè)工作。 2.2 檢測(cè)人員應(yīng)具有良好的身體素質(zhì)，其校正視力不得低于5.0，并每年檢查一次。 2.3檢測(cè)人員應(yīng)嚴(yán)格執(zhí)行《檢測(cè)作業(yè)安全防護(hù)指導(dǎo)書》和其它安全防護(hù)規(guī)定，確保安全生產(chǎn)。

3、3 檢測(cè)程序 3.1 根據(jù)工程特點(diǎn)和本工藝編制具體的《無損檢測(cè)技術(shù)方案》。 3.2 受檢設(shè)備經(jīng)外觀檢查合格后，由現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)理或檢驗(yàn)員開據(jù)《無損檢測(cè)指令》或《無損檢測(cè)委托單》到檢測(cè)中心。 3.3 檢測(cè)人員按指令或委托單要求進(jìn)行檢測(cè)準(zhǔn)備，技術(shù)人員根據(jù)實(shí)際情況編制《探傷工藝卡》。 3.4 檢測(cè)人員按《超聲波探傷儀調(diào)試作業(yè)指導(dǎo)書》等工藝文件進(jìn)行設(shè)備調(diào)試。 3.5 外觀檢查合格后，施加耦合劑，實(shí)施檢測(cè)，做好《超聲波檢測(cè)記錄》。 3.7 根據(jù)檢測(cè)結(jié)果和委托單，填寫相應(yīng)的回執(zhí)單或合格通知單。若有返修，還應(yīng)出據(jù)《返修通知單》，標(biāo)明返修位置等。將回執(zhí)單和返修通知單遞交監(jiān)理或檢驗(yàn)員，同時(shí)對(duì)受檢設(shè)備進(jìn)行檢驗(yàn)

4、和試驗(yàn)狀態(tài)標(biāo)識(shí)。 3.8 返修后，按要求重新進(jìn)行檢測(cè)。 3.9 在檢測(cè)過程中應(yīng)有Ⅱ或Ⅲ級(jí)人員在現(xiàn)場(chǎng)。所有的檢測(cè)工作完成后，由具有超聲波Ⅱ或Ⅲ級(jí)人員出據(jù)《超聲波檢測(cè)報(bào)告》，由技術(shù)負(fù)責(zé)人或其授權(quán)人審核。 4 探傷儀、探頭、試塊和系統(tǒng)性能的一般要求 4.1 探傷儀采用A型脈沖反射式探傷儀，工作頻率范圍為0.5-10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度80％范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB誤差在±1dB以內(nèi)，最大累計(jì)誤差不超過1dB，水平線性誤差不超過1％，垂直線性誤差不超過5％。 4.2 探頭晶片有效面積一般不應(yīng)超過50

5、0mm2,且任一邊長(zhǎng)不應(yīng)大于25mm。單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2o，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。 4.3 探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能 4.3.1 在達(dá)到所探工作的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)大于或等于10dB。 4.3.2 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度：對(duì)于頻率為5 MHz的探頭，其占寬不得大于10mm；對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，其占寬不得大于15mm。 4.3.3 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)大于或等于6dB。 4.4 超聲波檢測(cè)的一般要求 4.4.1 檢測(cè)時(shí)，應(yīng)盡量掃查到工作的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查復(fù)蓋率應(yīng)大于探頭直徑的

6、15％。 4.4.2 探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。 4.4.3 掃查靈敏度至少應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。 4.4.4 應(yīng)采用透聲性好且不損傷受檢設(shè)備表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等。 4.4.5 檢測(cè)面應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格，所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕、飛濺和污物都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。 4.4.6 在制作距離--波幅曲線時(shí)，應(yīng)考慮各種耦合補(bǔ)償。 4.5 校準(zhǔn) 4.5.1 校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使超聲主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的軸線，以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào)。 4.5.2 儀器在開始使用時(shí)，應(yīng)對(duì)其水平線性進(jìn)行測(cè)定

7、。使用中，每隔三個(gè)月至少應(yīng)對(duì)儀器的水平線和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定。 4.5.3 斜探頭使用前，應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等的校準(zhǔn)。使用過程中，每個(gè)工作日應(yīng)校準(zhǔn)前沿距離、K值和主聲束偏離。直探頭使用前檢查始脈沖占寬、靈敏度余量和分辨力。 4.6 儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 4.6.1 復(fù)核的時(shí)機(jī)： 每次檢測(cè)前均應(yīng)對(duì)掃描線、靈敏度進(jìn)行校核，遇有下列情況應(yīng)隨時(shí)進(jìn)行重新校核： a) 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時(shí)； b) 檢測(cè)者懷疑掃描量程或靈敏度有變化時(shí)； c) 連續(xù)工作4小時(shí)以上時(shí)； d) 工作結(jié)束時(shí)。 4.6.2 每次檢查結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行

8、復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描讀數(shù)的10％，則掃描量程應(yīng)予以重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)驗(yàn)。 4.6.3每次檢查結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核，距離--波幅曲線的校核一般不少于3點(diǎn)。校核時(shí)，如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次以來所有的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。 4.7 試塊 4.7.1 試塊應(yīng)妥善保管，各種缺欠孔要經(jīng)常清理。 4.7.2 試塊選擇應(yīng)注意外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊的厚度應(yīng)與被檢工作的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度的部件進(jìn)行熔焊時(shí)，試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來確定。

9、 4.7.3 現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)時(shí)，可以采用其它型式的等效試塊。 4.8 探傷儀、探頭、試塊和系統(tǒng)性能測(cè)試按《超聲波探傷儀調(diào)試作業(yè)指導(dǎo)書》進(jìn)行。 5 鋼板的超聲檢測(cè) 本條適用于板厚6～250mm的板材的超聲檢測(cè)和缺欠等級(jí)評(píng)定。 5.1 探頭的選用按下表進(jìn)行。 板 厚 mm 采用探頭 公稱頻率 探頭晶片尺寸 雙晶直探頭 單晶直探頭 6～20 雙晶直探頭 5MHz 晶片面積不小于150mm2 / >20 ～40 單晶直探頭 5MHz / 圓晶片直徑為14～20mm >40 ～250 單晶直探頭 2.5MHz / 圓晶片直徑為20～25mm

10、 5.2 標(biāo)準(zhǔn)試塊 5.2.1 用雙晶直探頭檢測(cè)壁厚小于或等于20mm的鋼板時(shí)，采用CBⅠ標(biāo)準(zhǔn)試塊。 5.2.2 用單晶直探頭檢測(cè)壁厚大于20mm的鋼板時(shí)，采用CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊。試塊厚度與被檢鋼板厚度相近。 5.3 檢測(cè)時(shí)機(jī) 對(duì)于要求淬火、正火或回火處理的鋼板，檢測(cè)應(yīng)在熱處理后進(jìn)行。 5.4 檢測(cè)靈敏度 5.4.1 板厚小于或等于20mm時(shí)，用CBⅠ試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50％，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。 5.4.2 板厚大于20mm時(shí)，應(yīng)將CBⅡ試塊Ф5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50％作為檢測(cè)靈敏度。 5.4.3板厚大于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，

11、也可取鋼板無缺欠的完好部位的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與5.4.2條相一致。 5.5 檢測(cè)方法 5.5.1 檢測(cè)面 可選鋼板的任一軋制平面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可對(duì)鋼板的上下兩軋制平面分別進(jìn)行檢測(cè)。 5.5.2 掃查方式 a) 探頭沿垂直于鋼板壓延方向，按間距不大于100mm的平行線進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作100％掃查。 b) 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可進(jìn)行其它形式的掃查。 5.6 缺欠記錄 5.6.1 在檢測(cè)過程中出現(xiàn)下列三種情況之一者及作為缺欠： a) 缺

12、欠第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50％，即F1≥50％者。 b) 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺欠第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）之比大于或等于的50％，即B1≤100％，而F1/ B1≥50％者。 c) 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高低于滿刻度的50％，即B1<50％者。 5.6.2 缺欠的邊界或指示長(zhǎng)度的測(cè)定方法 a) 檢出缺欠后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè)，以確定缺欠的延伸及范圍。 b) 用雙晶直探頭確定缺欠的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，使缺欠波下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25

13、％或使缺欠第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50％。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺欠的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺欠的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 c) 用單直探頭確定缺欠的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，使缺欠第一次反射波高下降到檢測(cè)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25％或使缺欠第一次反射波與底面第一次反射波高之比為50％。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺欠的指示長(zhǎng)度，探頭中心點(diǎn)即為缺欠的邊界點(diǎn)。兩種方法測(cè)得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 d) 確定5.6.1 c)條邊界或指示長(zhǎng)度時(shí)，移動(dòng)探頭，使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50％。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺欠的指示長(zhǎng)度，探頭中

14、心點(diǎn)即為缺欠的邊界點(diǎn)。 e) 當(dāng)采用第二次缺欠波和第二次底波來評(píng)定缺欠時(shí)，檢測(cè)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來校準(zhǔn)。 5.7 缺欠的評(píng)定方法 5.7.1 缺欠指示長(zhǎng)度的評(píng)定準(zhǔn)則：一個(gè)缺欠按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺欠的指示長(zhǎng)度。若單個(gè)缺欠的指示長(zhǎng)度小于40mm時(shí)，可不做記錄。 5.7.2 單個(gè)缺欠指示面積的評(píng)定規(guī)則 a) 一個(gè)缺欠按其指示的最大面積作為該缺欠的單個(gè)指示面積。當(dāng)其小于下表時(shí)，可不作記錄。 等級(jí) 單個(gè)缺欠指示長(zhǎng)度（mm） 單個(gè)缺欠指示面積(cm2) 在任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)存在的缺欠面積百分比(％) 以下單個(gè)缺欠指示面積不記(cm2) Ⅰ <80 <25

15、≤3 <9 Ⅱ <100 <50 ≤5 <15 Ⅲ <120 <100 ≤10 <25 Ⅳ <150 <100 ≤10 <25 Ⅴ 超過Ⅳ級(jí)者 b) 多個(gè)缺欠其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰小缺欠的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，其各缺欠面積之和作為單個(gè)缺欠指示面積。 5.7.3 缺欠面積占有率的評(píng)定規(guī)則：在任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)，按缺欠所占的百分比來確定。如鋼板面積小于1m×1m,可按比例折算。 5.8 鋼板缺欠等級(jí)評(píng)定 5.8.1 缺欠等級(jí)劃分見5.7.2的表格。 5.8.2 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（板厚超過100mm時(shí)，以板厚的

16、一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺欠的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí)，則應(yīng)評(píng)為Ⅴ級(jí)。 5.8.3 在檢測(cè)過程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺欠存在時(shí)，則應(yīng)評(píng)為Ⅴ級(jí)。 6 鍛件的超聲檢測(cè) 本條適用于碳素鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測(cè)和缺欠等級(jí)評(píng)定。不適用于奧氏體鋼等粗晶材料的超聲檢測(cè)，也不適用于內(nèi)外徑之比小于80％的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測(cè)。 6.1 試塊 6.1.1 縱波直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊 采用CSⅠ和CSⅡ、CSⅢ試塊，也可自行加工其他對(duì)比試塊。 6.1.2 縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊 a) 工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用CSⅡ試塊。 b) 縱波雙晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸

17、應(yīng)符合JB4730表5和圖5的規(guī)定。 6.1.3 檢測(cè)面是曲面時(shí)，應(yīng)采用CSⅢ標(biāo)準(zhǔn)試塊來測(cè)定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸符合JB4730圖6的規(guī)定。 6.2 檢測(cè)時(shí)機(jī) 原則上應(yīng)安排在熱處理后，槽、孔、臺(tái)階加工前進(jìn)行。若熱處理后鍛件形狀不適合超聲檢測(cè)時(shí)，也可在熱處理前進(jìn)行，但在熱處理后仍應(yīng)對(duì)鍛件進(jìn)行盡可能完全的檢測(cè)。檢測(cè)面的表面粗糙度Ra為6.3um。 6.3 檢測(cè)方法 鍛件一般應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)。對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)進(jìn)行橫波檢測(cè)，但掃查部位和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)由供需雙方商定。 6.3.1 橫波檢測(cè)應(yīng)按JB4730附錄C的要求進(jìn)行。 6.3.2 縱波檢測(cè)原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方

18、向進(jìn)行檢測(cè)，盡可能檢測(cè)到鍛件的全體積。鍛件厚度超過400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行100％的掃查。 6.4 檢測(cè)靈敏度的確定 6.4.1 縱波直探頭檢測(cè)靈敏度的確定 當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，原則上可選用底波計(jì)算法確定檢測(cè)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用CSⅠ標(biāo)準(zhǔn)試塊確定檢測(cè)靈敏度。 6.4.2 縱波雙晶直探頭檢測(cè)靈敏度的確定 選擇CSⅡ試塊，并依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的Ф3平底孔（至少三個(gè)）。調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80％。不改變儀器的參數(shù)，測(cè)出其它平底孔回波的最高點(diǎn)，將其標(biāo)在熒光屏上，連接這些

19、點(diǎn)，即是對(duì)應(yīng)于不同直徑平底孔的縱波雙晶直探頭的距離—波幅曲線，并以此作為檢測(cè)靈敏度。 6.4.3 檢測(cè)靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離的Ф2mm平底孔當(dāng)量直徑。 6.5 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的確定 6.5.1 在工件無缺欠完好區(qū)域，選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（B1）為滿刻度的50％，記錄此時(shí)衰減器的讀數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度（B2）為滿刻度的50％，兩次衰減器讀數(shù)之差即為（B1- B2）的dB差值。 6.5.2 衰減系數(shù)的計(jì)算公式為：（T≥3N） （B1- B2）-6dB α= 2T 當(dāng)T<3N，且滿足n>3N/t

20、,m=2n: α=（B1- B2）-6dB 2(m-n) T 式中：α--衰減系數(shù)，dB/m（單程）； （B1- B2）--兩次衰減器讀數(shù)之差，dB； T—工件檢測(cè)厚度，mm。 m、n—底波反射次數(shù)。 6.5.3 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。 6.6 缺欠當(dāng)量的確定 6.6.1 采用AVG曲線及計(jì)算法確定缺欠的當(dāng)量。對(duì)于三倍近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺欠，可采用單直探頭或雙晶直探頭的距離—波幅曲線來確定缺欠當(dāng)量。也可采用其它等效方法來確定。 6.6.2 計(jì)算缺欠當(dāng)量時(shí)，當(dāng)材質(zhì)衰減系數(shù)超過4 dB/m，應(yīng)考

21、慮修正。 6.7 缺欠記錄 6.7.1 記錄當(dāng)量直徑超過Φ4mm的單個(gè)缺欠的波幅和位置。 6.7.2 密集性缺欠：記錄密集性缺欠中最大當(dāng)量缺欠的位置和分布。餅形鍛件應(yīng)記錄大于或等于Φ4mm當(dāng)量直徑的缺欠密集區(qū)，其它鍛件應(yīng)記錄大于或等于Φ3mm直徑的缺欠密集區(qū)。缺欠密集區(qū)面積以50mm×50mm的方塊作為最小量度單位，其邊界可由6 dB法決定。應(yīng)按表二要求記錄底波降低量。 6.7.3 衰減系數(shù)：若供需雙方有規(guī)定時(shí)，應(yīng)記錄衰減系數(shù)。 6.8 缺欠等級(jí)評(píng)定 6.8.1 單個(gè)缺欠等級(jí)評(píng)定見表一。 6.8.2 底波降低量的等級(jí)評(píng)定見表二。 6.8.3 密集區(qū)缺欠等級(jí)評(píng)定見表三。 表一

22、 單個(gè)缺欠等級(jí)評(píng)定 等 級(jí) Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 缺欠當(dāng)量直徑 ≤Ф4 Ф4+ （>0～8dB） Ф4+ （>8～12dB） Ф4+ （>12～16dB） >Ф4+16dB 表二 由缺欠引起底波降低量的等級(jí)評(píng)定 等 級(jí) Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 底波降低量 BG/BF ≤8 >8～14 >14～20 >20～26 >26 注：本表僅適用于聲程大于近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的缺欠。 表三 密集區(qū)缺欠的等級(jí)評(píng)定 等 級(jí) Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 密集區(qū)缺欠占檢測(cè)總面積百分比％ 0 >0～5 >5～10 >10～2

23、0 >20 6.8.4 表一、表二和表三的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。 6.8.5 如果工件的材質(zhì)衰減對(duì)檢測(cè)效果有較大的影響，應(yīng)重新進(jìn)行熱處理。 6.8.6 如果被檢測(cè)人員判定為危害性缺欠時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級(jí)為Ⅴ級(jí)。。 6.8.7 鍛件修補(bǔ)后，應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)定。 7 焊縫的超聲波檢測(cè)（JB4730標(biāo)準(zhǔn)） 本條適用于母材厚度為6～400mm全焊透熔化焊對(duì)接焊縫的超聲檢測(cè)。不適用于鑄鋼及奧氏體鋼焊縫,也不適用于外徑小于250mm或內(nèi)外徑之比小于80％的縱向焊縫檢測(cè)。 7.1 試塊 7.1.1 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、C

24、SK-ⅣA。CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA試塊適用壁厚范圍為6～120mm的焊縫；CSK-ⅠA和CSK-ⅣA系列試塊適用壁厚范圍大于120～400mm的焊縫。在滿足靈敏度要求時(shí)，也可采用其它型式的等效試塊。 7.1.2 檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí)（W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度），應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊，反射孔的位置可參照對(duì)比試塊確定。試塊應(yīng)滿足： b≥2λS/D0 式中：b—試塊寬度，mm； λ—聲波波長(zhǎng)，mm； S—聲程，mm； D0—聲源有效直徑，mm。 7

25、.2 檢測(cè)準(zhǔn)備 7.2.1 檢測(cè)面 a) 焊縫檢測(cè)一般采用一種K值頭、利用一次反射法在焊縫的單面雙側(cè)對(duì)整個(gè)焊接接頭進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)母材厚度大于46mm時(shí)，采用雙面雙側(cè)的直射波檢測(cè)。對(duì)于要求比較高的焊縫，根據(jù)實(shí)際需要也可將焊縫余高磨平，直接在焊縫上進(jìn)行檢測(cè)。 b) 檢測(cè)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30％的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為5mm，最大為10 mm。 c) 探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測(cè)表面應(yīng)平整光滑，其表面粗糙度Ra應(yīng)小于等于6.3um,一般應(yīng)進(jìn)行打磨。移動(dòng)區(qū)范圍應(yīng)滿足下列要求： 采用直射法時(shí)，移動(dòng)區(qū)應(yīng)不少于0.75TK；采用一次反射法

26、或串列式掃查時(shí)，移動(dòng)區(qū)應(yīng)不少于1.25TK （T—板厚；K—探頭K 值。）。 d) 去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊、較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?，并作圓滑過渡以免影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定。 7.2.2 探頭K值的選擇 7.2.2.1探頭K值的選擇按下表規(guī)定選擇： 厚度（mm） 探頭K值（折射角） 6～25 3.0～2.0（72°～60°） >25～46 2.5～1.5（68°～56°） >46～120 2.0～1.0（60°～45°） >120～400 2.0～1.0（60°～45°） 7.2.2.2 串列

27、式掃查，推薦選用兩個(gè)K1值的探頭，兩探頭實(shí)際折射角相差不應(yīng)超過2o，探頭前沿長(zhǎng)度相差應(yīng)小于2mm。為便于探測(cè)厚焊縫坡口邊緣未熔合缺欠，亦可選用兩個(gè)不同K值的探頭，但兩個(gè)探頭K值 均應(yīng)在0.7～1.43范圍。 7.3 距離—波幅曲線的繪制 7.3.1 曲線按所用探頭和儀器在相應(yīng)的試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量線和判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）為Ⅰ區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為Ⅱ區(qū)，判廢線及其以上為Ⅲ區(qū)。 7.3.2 距離—波幅曲線的靈敏度選擇 a） 壁厚為6～120mm的焊縫，其距離—波幅曲線靈敏度按表四規(guī)定； b） 壁厚大于120～400mm的

28、焊縫，其距離—波幅曲線靈敏度按表五規(guī)定； c） 直探頭的距離—波幅曲線靈敏度按表六規(guī)定； d） 檢測(cè)橫向缺欠時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB； e） 檢測(cè)面曲率半徑R小于或等于W2/4時(shí)，距離—波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面對(duì)比試塊上進(jìn)行。 f） 工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，在一跨距離聲程內(nèi)最大傳輸損失差不超過2 dB時(shí)可以不進(jìn)行補(bǔ)償。 表四 距離—波幅曲線的靈敏度（JB4730） 試塊型式 板厚 mm 評(píng)定線 定量線 判廢線 CSK-ⅡA 6～46 Ф2×40-18dB Ф2×40-12dB Ф2×40-4dB >46～120 Ф2×40-14

29、dB Ф2×40-8dB Ф2×40+2dB CSK-ⅢA 8～15 Ф1×6-12dB Ф1×6-6dB Ф1×6+2dB >15～46 Ф1×6-9dB Ф1×6-3dB Ф1×6+5dB >46～120 Ф1×6-6dB Ф1×6 Ф1×6+10dB 表五 距離—波幅曲線的靈敏度（JB4730） 試塊型式 板厚 mm 評(píng)定線 定量線 判廢線 CSK-ⅣA >120～400 Фd-16dB Фd-10dB Фd 表六 T型焊接接頭直探頭距離—波幅曲線的靈敏度（JB4730） 評(píng)定線 定量線 判廢線 Ф2mm平

30、底孔 Ф3mm平底孔 Ф4mm平底孔 7.4 檢測(cè)方法 7.4.1 平板對(duì)接焊縫的檢測(cè) a) 為檢測(cè)縱向缺欠，原則上采用一種K值或兩種K值探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。母材厚度大于46mm時(shí)，采用雙面雙側(cè)檢測(cè)，如受幾何條件限制，也可在焊縫雙面單側(cè)采用兩種K值探頭進(jìn)行檢測(cè)。斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測(cè)面上，作鋸齒型掃查。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面。在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作10o～15o的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。當(dāng)壁厚大于40mm且單側(cè)坡口角度小于5o時(shí)，應(yīng)采用串列式檢測(cè)。 b) 為檢測(cè)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺欠應(yīng)進(jìn)行平行和斜平行掃查。檢測(cè)時(shí)，可在焊縫兩側(cè)邊

31、緣使探頭與焊縫中心線成10o～20o作斜平行掃查。焊縫余高磨平時(shí)，可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查。焊縫母材超過100mm時(shí)，應(yīng)在焊縫的兩面作平行掃查或采用兩種K值探頭（K1和K1.5或K1和K2并用）作單面兩個(gè)方向的平行掃查；必要時(shí)亦可用兩個(gè)K1探頭作串列掃查。對(duì)電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線成45o的掃查。 c) 為確定缺欠的位置、方向和形狀，觀察缺欠動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺欠信號(hào)或偽缺欠信號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角和環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。 7.4.2 曲面工件對(duì)接焊縫的檢測(cè) 7.4.2.1 檢測(cè)面為曲面時(shí)，可盡量按平板對(duì)接焊縫的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)于受幾何條件限制，無法

32、檢測(cè)的部位應(yīng)予以記錄。 7.4.2.2 縱縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與檢測(cè)面曲率半徑之差應(yīng)小于10％。 a) 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫。 b) 探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和K值的變化，并用曲率試塊作實(shí)際測(cè)定。 c) 當(dāng)檢測(cè)面曲率半徑R大于W2/4且采用平面對(duì)比試塊調(diào)節(jié)儀器時(shí)，應(yīng)注意到熒光屏指示的缺欠深度或水平距離與缺欠實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長(zhǎng)的差異，必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正。 7.4.2.3 環(huán)縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測(cè)面曲率半徑的0.9～1.5倍。 7.5 缺欠定量檢測(cè) 7.5.1 靈敏度應(yīng)調(diào)到定

33、量線靈敏度。 7.5.2 對(duì)所有反射波幅超過定量線的缺欠，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅和缺欠當(dāng)量。 7.6 缺欠定量 應(yīng)根據(jù)缺欠最大反射波幅確定缺欠當(dāng)量直徑Φ或缺欠指示長(zhǎng)度 ΔL。 7.6.1 缺欠當(dāng)量直徑Φ，用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢測(cè)，可采用公式計(jì)算，距離—波幅曲線和試塊對(duì)比來確定缺欠當(dāng)量尺寸。 7.6.2 缺欠指示長(zhǎng)度ΔL的測(cè)定采用以下方法： a） 當(dāng)缺欠反射波只有一個(gè)高點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，用6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度。 b) 當(dāng)缺欠反射波峰值 起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，用

34、端點(diǎn)6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度。 c) 當(dāng)缺欠反射波峰位于Ⅰ區(qū)時(shí)，如認(rèn)為有必要記錄時(shí)，將探頭左右移動(dòng)，使波幅降到評(píng)定線，以此測(cè)定缺欠指示長(zhǎng)度。 7.7 缺欠評(píng)定 7.7.1 超過評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺欠特征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取改變探頭K值、增加檢測(cè)面、觀察動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定，如對(duì)波型不能判斷時(shí)，應(yīng)輔以其它檢測(cè)方法作綜合判定。 7.7.2 缺欠指示長(zhǎng)度小于10mm時(shí)，按5mm計(jì)。 7.7.3 相鄰兩缺欠在一直線上，其間距小于其中較小的缺欠長(zhǎng)度時(shí)，兩缺欠指示長(zhǎng)度之和作為單個(gè)缺欠的指示長(zhǎng)度（不考慮間距）。 7.8 缺欠等級(jí)評(píng)定 7.8.1 不允許存在下列缺欠

35、： a) 反射波幅位于判廢線及Ⅲ區(qū)的缺欠； b) 檢測(cè)人員判定為裂紋等危害性的缺欠。 7.8.2 最大反射波幅位于Ⅱ區(qū)的缺欠，根據(jù)其指示長(zhǎng)度按表七規(guī)定予以評(píng)級(jí)。 焊接接頭質(zhì)量分級(jí) mm 等級(jí) 板厚T 反射波幅 (所在區(qū)域) 單個(gè)缺欠指示長(zhǎng)度L 多個(gè)缺欠累計(jì)長(zhǎng)度L′ Ⅰ 6～400 Ⅰ 非裂紋類缺欠 6～120 Ⅱ L＝T /3，最小為10，最大不超過30 在任意9T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi) L′不超過T ＞120～400 L＝T /3，最大不超過50 Ⅱ 6～120 Ⅱ L＝2

36、 T/3，最小為12，最大不超過40 在任意4.5T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi) L′不超過T 最大不超過75 ＞120～400 Ⅲ 6～400 Ⅱ 超過Ⅱ級(jí)者 超過Ⅱ級(jí)者 Ⅲ 所有缺欠 Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ 裂紋等危害性缺欠 注：1 母材板厚不同時(shí)，取薄板側(cè)厚度值。 2 當(dāng)焊縫長(zhǎng)度不足9T（Ⅰ級(jí)）或4.5T（Ⅱ級(jí)）時(shí)，可按比例折算。當(dāng)折算后的缺欠累計(jì)長(zhǎng)度小于單個(gè)缺欠指示長(zhǎng)度時(shí)，以單個(gè)缺欠指示長(zhǎng)度為準(zhǔn)。 7.8.3 最大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺欠，均評(píng)為Ⅰ級(jí)。 7.8.4不合格缺欠應(yīng)予以返修。返修部位及熱影響區(qū)仍按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)和等級(jí)評(píng)定。 8 長(zhǎng)輸管道焊縫的超聲波檢測(cè)（SY

37、4109標(biāo)準(zhǔn)） 本條適用于壁厚為5～50mm，管徑為57～1400mm碳素鋼和低合金鋼等金屬材料的石油天然氣長(zhǎng)輸管道、集輸及其站場(chǎng)的管道環(huán)向?qū)雍缚p的超聲檢測(cè)與質(zhì)量分級(jí)；不適用于彎頭與直管、帶頸法蘭與直管，回彎頭與直管對(duì)接接頭的檢測(cè)。 8.1 試塊 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為SGB和SRB試塊。SRB試塊用于比較焊縫根部未焊透深度。SGB試塊用于測(cè)定探傷儀、探頭和系統(tǒng)的性能以及對(duì)儀器做調(diào)整和校驗(yàn)。SGB試塊適用范圍見下表： 編 號(hào) 弧面半徑R 適用管外徑Ф SGB-1 30 54～89 SGB-2 48 >89～140 SGB-3 76 >140～210 SGB-4

38、 120 >210～360 SGB-5 200 >360～600 SGB-6 平面 >600 8.2 檢測(cè)準(zhǔn)備 8.2.1 檢測(cè)面 a) 焊縫檢測(cè)一般采用一種K值頭，單面雙側(cè)直射法及一次反射法或二次反射法。 b) 檢測(cè)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各10mm區(qū)域。 c) 探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測(cè)表面應(yīng)平整光滑，其表面粗糙度Ra不應(yīng)超過6.3um,一般應(yīng)進(jìn)行打磨。移動(dòng)區(qū)范圍應(yīng)滿足下列要求：采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于1.25P P=2KT （P—探頭移動(dòng)區(qū)； T—板厚；K—折射角正切值。） 采用直射法檢測(cè)時(shí)，探

39、頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)不小于0.75 P 8.2.2 探頭K值的選擇 探頭K值的選擇按下表規(guī)定： 管壁厚度（mm） 探頭K值（折射角） 5-8 3～2.5（71.5～68.2°） >8～14 2.5～2.0（68.2°～63.5°） >14～50 2.0～1.0（63.5°～45°） 8.3 距離—波幅曲線的繪制 8.3.1 曲線按所用探頭和儀器在相應(yīng)的SGB和SRB試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量線和判廢線組成。評(píng)定線與定量線之間（包括評(píng)定線）為Ⅰ區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為Ⅱ區(qū)，判廢線及其以上為Ⅲ區(qū)。 8.3.2 距離—波幅曲線的靈敏度選擇 長(zhǎng)

40、輸管道的距離—波幅曲線靈敏度按下表規(guī)定選擇： 試塊型式 板厚 mm 評(píng)定線 定量線 判廢線 SGB 5～50 Φ2mm-2dB Φ2mm -8dB Φ2mm -14dB 8.4 檢測(cè)方法 采用單面雙側(cè)直射法及一次反射法或二次反射法。探傷靈敏度不低于評(píng)定線靈敏度，對(duì)未焊透靈敏度不低于SRB試塊人工矩形槽反射波峰值點(diǎn)高度。 為確定缺欠的位置、方向和形狀，觀察缺欠動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺欠信號(hào)或偽缺欠信號(hào)，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角和環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。 8.5 缺欠定量檢測(cè) 8.5.1 靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度。 8.5.2 對(duì)波幅超過評(píng)定線的反射波應(yīng)根據(jù)探頭位

41、置、方向，反射波在熒光屏上的波形和位置及焊縫情況判定是否為缺欠。為探測(cè)縱向缺欠，探頭應(yīng)垂直焊縫中心線做矩形掃查或鋸齒形掃查，探頭前后移動(dòng)范圍應(yīng)保證能掃查全部焊縫截面及熱影響區(qū)。 8.5.3 對(duì)反射波幅位于或超過定量線的缺欠以及判定為根部未焊透的缺欠，應(yīng)確定其位置、最大反射波所在區(qū)域和缺欠指示長(zhǎng)度，波幅測(cè)定允許誤差2dB。 8.5.4 缺欠最大反射波幅與定量線SL的dB差，記為 SL ± dB。 8.5.5 缺欠位置以獲得最大反射波的位置表示，根據(jù)相應(yīng)的探頭位置和反射波在熒光屏上的位置確定，在焊縫周向分度點(diǎn)為起點(diǎn)，沿介質(zhì)流出方向投影，順時(shí)針進(jìn)行標(biāo)記。深度標(biāo)記是以缺欠最大反射波的深度值表示

42、。 8.5.5當(dāng)缺欠反射波只有一個(gè)高點(diǎn)且位于Ⅱ區(qū)時(shí)，降低6dB相對(duì)靈敏度法測(cè)定缺欠指示長(zhǎng)度，當(dāng)缺欠反射波起伏變化；有多個(gè)高點(diǎn)且位于Ⅱ區(qū)時(shí)，應(yīng)以端點(diǎn)6dB法，確定指示長(zhǎng)度。 8.5.6 缺欠指示長(zhǎng)度小于 10mm時(shí)，按 5 mm計(jì)。 8.5.7 相鄰兩缺欠在一直線上，其間距小于較小的缺欠長(zhǎng)度時(shí)，應(yīng)作為一個(gè)缺欠處理，以兩缺欠長(zhǎng)度之和作為指示長(zhǎng)度。（不考慮間距）。 8.6 缺欠評(píng)定及檢驗(yàn)結(jié)果的等級(jí)分類 8.6.1如缺欠信號(hào)具有裂紋等危害性缺欠特征，其波幅不受幅度限制，均評(píng)為Ⅳ級(jí)，如不能準(zhǔn)確判定，應(yīng)輔以其他檢驗(yàn)作綜合判定。 8.6.2 缺欠反射波幅位于定量線以下的非危害性缺欠均評(píng)為I級(jí)。

43、 8.6.3 最大反射波位于Ⅱ區(qū)的缺欠以及波高小于SRB試塊人工矩形槽反射波峰值點(diǎn)的未焊透缺欠，應(yīng)根據(jù)缺欠的指示長(zhǎng)度，按下表的規(guī)定予以評(píng)定。 評(píng)定等級(jí) 開口缺欠（未焊透） 非開口缺欠（條形缺欠） Ⅰ 不允許 不允許 Ⅱ 4%L或任意300mm內(nèi)不大于20mm 4%L或任意300mm內(nèi)不大于25mm Ⅲ 8%L任意300mm內(nèi)不大于30mm 8%L或任意300mm內(nèi)不大于50mm Ⅳ 超過Ⅲ級(jí)者 超過Ⅲ級(jí)者 注：① L為管道焊縫長(zhǎng)度； ②錯(cuò)邊未焊透，按非開口缺欠處理。 8.

44、6.4 波高大于等于SRB試塊人工矩形槽反射波峰值點(diǎn)的未焊透缺欠應(yīng)評(píng)為Ⅳ級(jí)。 8.6.5 反射波幅位于判度線或Ⅲ區(qū)的缺欠，無論指示長(zhǎng)度如何，均評(píng)為Ⅳ級(jí)。 8.6.6 不合格的缺欠，應(yīng)予返修。返修區(qū)域補(bǔ)焊后，返修部位及補(bǔ)焊受影響的區(qū)域，應(yīng)按原探傷條件進(jìn)行復(fù)驗(yàn)，復(fù)驗(yàn)部位的缺欠亦應(yīng)按本章要求評(píng)定。 9、鋼質(zhì)儲(chǔ)罐的超聲波檢測(cè)：（GB50128-2005） 9.1罐壁焊縫除T字焊縫外，可用超聲波代替射線檢測(cè)，但其中20%的部位應(yīng)采用射線檢測(cè)進(jìn)行復(fù)驗(yàn)。 9.2超聲波比例，按設(shè)計(jì)文件要求；檢測(cè)部位，應(yīng)由監(jiān)理工程師在現(xiàn)場(chǎng)確定。 9.3超聲波檢測(cè)檢測(cè)不合格時(shí)，如果缺陷的位置距離超聲檢測(cè)端部不足75mm，應(yīng)在該端延伸300mm作補(bǔ)充檢測(cè)，如延伸部位的檢測(cè)結(jié)果不合格，應(yīng)繼續(xù)延伸檢查。 9.4超聲波檢測(cè)執(zhí)行《承壓設(shè)備無損檢測(cè)》JB/T4730-2005，Ⅱ級(jí)合格。 10 檢測(cè)資料 檢測(cè)資料（包括檢測(cè)記錄、檢測(cè)報(bào)告等）應(yīng)歸檔保存，保存期不少于7年。 編制：劉覺非 審核：賈濤 批準(zhǔn)：薛正林 日期：2006.12.28 專心---專注---專業(yè)