超聲檢測(cè)取換證必考工藝題

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1、,*,,,,,,,,,,單擊此處編輯母版標(biāo)題樣式,,單擊此處編輯母版文本樣式,,第二級(jí),,第三級(jí),,第四級(jí),,第五級(jí),,,超聲檢測(cè)復(fù)試綜合題介紹,,一、主要檢測(cè)對(duì)象,1,、焊縫,,2,、鍛件,,3,、鋼板,二、題目類(lèi)型,1,、工藝題,,2,、解釋分析題,,3,、缺陷評(píng)定,◆,焊縫,,JB/T4730.3-2005,解釋?zhuān)?,１、超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí),,1). A,級(jí)檢測(cè)：,,A,級(jí)僅適用于母材厚度,≥8mm,～,46mm,的對(duì)接焊接接頭。可用一種,K,值探頭采用直射波法和一次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。,,三、標(biāo)準(zhǔn)和考題介紹,2) B,級(jí)檢測(cè)：,,a),

2、母材厚度,≥,8mm,～,46mm,時(shí)，一般用一種,K,值探頭采用直射波法和一次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。,,b),母材厚度,大于,46mm,～,120mm,時(shí)，一般用一種,K,值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)，如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種,K,值探頭進(jìn)行檢測(cè)。,,c),母材厚度,大于,120mm,～,400mm,時(shí)，一般用兩種,K,值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于,10,°,。,,d),應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí)，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線(xiàn)成,10,°,～,20,°,作

3、兩個(gè)方向的斜平行掃查，見(jiàn)圖,12,。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見(jiàn)圖,13,。,,3) C,級(jí)檢測(cè)：,,采用,C,級(jí)檢測(cè)時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，對(duì)焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過(guò)的母材區(qū)域要用直探頭進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)方法見(jiàn),5.1.4.4,。,,a).,母材厚度,≥,8mm,～,46mm,時(shí)，一般用兩種,K,值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于,10,°,，其中一個(gè)折射角應(yīng)為,45,°,。,,b).,母材厚度,大于,46,mm,～,400mm,時(shí)，一般用兩種,K,值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢

4、測(cè)。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于,10,°,。對(duì)于單側(cè)坡口角度小于,5,°,的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對(duì)檢測(cè)與坡口表面平行缺陷有效的檢測(cè)方法。,,c).,應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。檢測(cè)時(shí)，將探頭放在與焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見(jiàn)圖,13,。,,2,）、試塊,,,采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為,CSK-,Ⅰ,A,、,CSK-,Ⅱ,A,、,CSK-,Ⅲ,A,和,CSK-,Ⅳ,A,。,,CSK-,Ⅰ,A,、,CSK-,Ⅱ,A,和,CSK-,Ⅲ,A,試塊適用壁厚范圍為,6mm,～,120mm,的焊接接頭，,CSK-,Ⅰ,A,和,CSK-,Ⅳ,A,系列試塊適用壁厚范圍大于,120mm,～,400mm,的焊接

5、接頭。在滿(mǎn)足靈敏度要求時(shí)，試塊上的人工反射體根據(jù)檢測(cè)需要可采取其他布置形式或添加，也可采用其他型式的等效試塊。,,3,）、探頭,K,值（角度）,,,斜探頭的,K,值（角度）選取可參照表,18,的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大,K,值探頭。,,表,18,推薦采用的斜探頭,K,值,,板厚,T,（,mm,）,K,值,,6,～,25 3.0,～,2.0,（,72,°,～,60,°,）,,>25,～,46 2.5,～,1.5,（,68,°,～,56,°,）,,>46,～,120 2.0,～,1.0,（,60,°,～,45,°,）,,>120,～,

6、400 2.0,～,1.0,（,60,°,～,45,°,）,,,,4,）、檢測(cè)頻率,,檢測(cè)頻率一般為,2MHz,～,5MHz,。,,5),、母材的檢測(cè),,,對(duì)于,C,級(jí)檢測(cè)，斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測(cè)，以便檢測(cè)是否有影響斜探頭檢測(cè)結(jié)果的分層或其他種類(lèi)缺陷存在。該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè)。母材檢測(cè)的要點(diǎn)如下：,,,a,）,,檢測(cè)方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率,2MHz,～,5MHz,的直探頭，晶片直徑,10mm,～,25mm,。,,,b,）,,檢測(cè)靈敏度：將無(wú)缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿(mǎn)刻度的,100%,。,,,c,）,,凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)熒光屏滿(mǎn)刻

7、度,20%,的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。,,6),、距離,-,波幅曲線(xiàn)的靈敏度選擇,,a,）,,壁厚為,6mm,～,120mm,的焊接接頭，其距離,-,波幅曲線(xiàn)靈敏度按表,19,的規(guī)定。,,b,）,,壁厚大于,120mm,～,400mm,的焊接接頭，其距離,-,波幅曲線(xiàn)靈敏度按表,20,的規(guī)定。,,c,）,,檢測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線(xiàn)靈敏度均提高,6dB,。,,試題舉例,1,、筒體環(huán)縫,B1,和,B2,（圖,1,），材質(zhì),15CrMoR,,焊接后應(yīng)按,JB/T4730.3-2005,標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行超聲檢測(cè)，檢測(cè)級(jí)別為,C,級(jí)，,Ⅰ,級(jí)合格，請(qǐng)敘述檢測(cè)的要點(diǎn)并在圖,1,上標(biāo)注探頭和掃查方向

8、。,圖,1,筒體環(huán)縫,B1,和,B2,解答：,(1),焊縫兩側(cè)母材區(qū)先用直探頭檢測(cè),,(2),在焊縫的雙面雙側(cè)用兩種,K,值斜探頭，選用,K1,和,K2,探頭進(jìn)行檢測(cè)；,,(3),應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷檢測(cè)，把探頭放在焊縫內(nèi)、外表面上作正反兩個(gè)方向掃查，并把各線(xiàn)靈敏度提高,6dB,。,,,3,、按,JB/T4730.3-2005,標(biāo)準(zhǔn)，焊縫檢測(cè)時(shí)有哪幾種掃查方式？試敘述每種掃查方式的目的。,解答：,,,有鋸齒型掃查、平行和斜平行掃查、,45°,斜向掃查以及前后、左右、轉(zhuǎn)角和環(huán)繞掃查。,,鋸齒型掃查用于檢測(cè)縱向缺陷；,,平行和斜平行掃查用于檢測(cè)橫向缺陷；,,45°,斜向掃查用于檢測(cè)電渣焊焊縫中的八字裂紋

9、；,,前后掃查用于尋找缺陷的最高回波、測(cè)量缺陷的高度；,,左右掃查用于尋找缺陷的最高回波、測(cè)量缺陷的長(zhǎng)度；,,轉(zhuǎn)角掃查用于判別缺陷的方向性；,,環(huán)繞掃查用于判別缺陷的形狀；,4,、超聲檢測(cè)時(shí)，余高磨平有什么好處？,,,答：焊縫磨平有利于探頭在焊縫表面進(jìn)行檢測(cè)，提高直射波掃查覆蓋率；有利于斜探頭在焊縫上進(jìn)行平行掃查，以發(fā)現(xiàn)垂直于焊縫軸線(xiàn)的橫向缺陷，提高了橫向缺陷檢測(cè)靈敏度；而且可以減少因焊縫表面不規(guī)則而產(chǎn)生的表面雜波，提高探測(cè)質(zhì)量,。,請(qǐng)對(duì),B1,焊縫質(zhì)量予以評(píng)級(jí)并說(shuō)明理由。,解答：,評(píng)定結(jié)果：,,信號(hào),1,,級(jí)別；,Ⅲ,級(jí),,性質(zhì)：未熔合,,評(píng)級(jí)理由：波幅位于,Ⅱ,區(qū)，長(zhǎng)度小于,1/3T,，但

10、從信號(hào)位置和波型模式為,Ⅱ,來(lái)判斷應(yīng)為未熔合，所以評(píng)為,Ⅲ,級(jí)。,信號(hào),2,,級(jí)別；,Ⅲ,級(jí),,性質(zhì)：裂紋,,評(píng)級(jí)理由：波幅位于,Ⅰ,區(qū)，長(zhǎng)度大于,1/3T,，但波型模式為,Ⅲ,且方向性較強(qiáng)，應(yīng)判斷為裂紋，所以評(píng)為,Ⅲ,級(jí)。,信號(hào),3,,級(jí)別；,Ⅰ,級(jí),,性質(zhì)：氣孔或夾渣,,評(píng)級(jí)理由：波幅位于,Ⅱ,區(qū)，長(zhǎng)度小于,1/3T,，波型模式為,Ⅰ,，應(yīng)判斷為點(diǎn)狀氣孔或夾渣，所以評(píng)為,Ⅰ,級(jí)。,,,綜合評(píng)定焊縫質(zhì)量：,Ⅲ,級(jí)。,,1,、探頭：,,(1),、,JB/T4730.3-2005,要求：,,,4.2.2,,雙晶直探頭的公稱(chēng)頻率應(yīng)選用,5MHz,。探頭晶片面積不小于,150mm,2,；單晶直探頭的

11、公稱(chēng)頻率應(yīng)選用,2,～,5MHz,，探頭晶片一般為,φ,14,～,φ,25mm,。,,◆,鍛件,2,、檢測(cè)方向：,,(1),、,JB/T4730.3-2005,要求：,,4.2.5.2,縱波檢測(cè),,a),原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè)，盡可能地檢測(cè)到鍛件的全體積。主要檢測(cè)方向如圖,7,所示。其他形狀的鍛件也可參照?qǐng)?zhí)行；,,b,）,,鍛件厚度超過(guò),400mm,時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端面進(jìn)行,100%,的掃查。,,3,、試塊,,(1),、,JB/T4730.3-2005,要求：,,4.2.3.1,單直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊,,采用,CS,Ⅰ,試塊，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖,4,和表,4,的規(guī)定。,,,表,4 C

12、SⅠ,標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸,,mm,,試塊序號(hào),L D,,CS,Ⅰ,-1 50 50,,CS,Ⅰ,-2 100 60,,CS,Ⅰ,-3 150 80,,CS,Ⅰ,-4 200 80,,4.2.6.1,單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定,,當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，且探測(cè)面與底面平行時(shí)，原則上可采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。對(duì)由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直

13、接采用,CS,Ⅰ,標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度。,,2,、雙晶直探頭試塊,,,a),工件檢測(cè)距離小于,45mm,時(shí)，應(yīng)采用,CS,Ⅱ,標(biāo)準(zhǔn)試塊。,,,b) CS,Ⅱ,試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖,5,和表,5,的規(guī)定。,,表,5 CSⅡ,標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸,,mm,,試塊序號(hào),,孔徑,,CS,Ⅱ,-1,φ,2,,CS,Ⅱ,-2,φ,3,,CS,Ⅱ,-3,φ,4,,CS,Ⅱ,-4,φ,6,,檢測(cè)距離,L=,5,10,15,20,25,30,35,40,45.,,圖,5 CSⅡ,標(biāo)準(zhǔn)試塊,,,3,、雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定,,使用,CS,Ⅱ,試塊，依次測(cè)試一組不同檢測(cè)距離的,φ,3,平底孔（至少三個(gè)）。調(diào)

14、節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離,-,波幅曲線(xiàn)，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。,,掃查靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離處的,φ,2mm,平底孔當(dāng)量直徑。,4,、,鋼鍛件超聲橫波檢測(cè),,附錄Ｃ適用于內(nèi)、外徑之比大于或等于,80%,的承壓設(shè)備用環(huán)形和筒形鍛件的超聲橫波檢測(cè)。,,,,C.2,探頭,,C.2.1,探頭公稱(chēng)頻率主要為,2.5MHz,。,,C.2.2,探頭晶片面積為,140 mm,2,～,400mm,2,。,,C.2.3,原則上應(yīng)采用,K,1,探頭，但根據(jù)工件幾何形狀的不同，也可采用其他的,K,值探頭。,,C.3,靈敏度校準(zhǔn)試塊,,為了調(diào)整檢測(cè)靈敏度，可利用被檢工件壁厚或長(zhǎng)度上的加工余量部分制作對(duì)比試

15、塊。在鍛件的內(nèi)外表面，分別沿軸向和周向加工平行的,V,形槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽。,V,形槽長(zhǎng)度為,25mm,，深度為鍛件壁厚的,1%,，角度為,60,°,。也可采用其他等效的反射體（如邊角反射等）。,,C.4,檢測(cè)方法,,C.4.1,掃查方式,,C.4.1.1,掃查方向見(jiàn)圖,C.1,。,,C.4.2,基準(zhǔn)靈敏度的確定,,從鍛件外圓面將探頭對(duì)準(zhǔn)內(nèi)圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，調(diào)整增益，使最大反射高度為滿(mǎn)刻度的,80%,，將該值標(biāo)在面板上，以其為基準(zhǔn)靈敏度；不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，再移動(dòng)探頭測(cè)定外圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽，并將最大的反射高度也標(biāo)在面板上，將上述兩點(diǎn)用直線(xiàn)連接并延長(zhǎng)，繪出距離,-,波幅曲線(xiàn)，并使之包括全部檢測(cè)范圍。內(nèi)

16、圓面檢測(cè)時(shí)基準(zhǔn)靈敏度也按上述方法確定，但探頭斜楔應(yīng)與內(nèi)圓曲率一致。,直探頭檢測(cè)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn),試題舉例,2,、接管鍛件如圖,2,所示，焊接前需要用,2.5P20Z,和,2.5P14×16K1,探頭對(duì)鍛件進(jìn)行檢測(cè)，請(qǐng)按,JB/T4730.3-2005,標(biāo)準(zhǔn)，確定校驗(yàn)反射體（試塊或大平底）、掃查面以及掃查方向，說(shuō)明理由，并敘述靈敏度校驗(yàn)方法。,答：,,（,1,）直探頭：由于,2.5P20Z,探頭近場(chǎng)為,42.4mm,，,3N=127mm,，不能用鍛件大平底校驗(yàn)，所以采用,CSⅠ,標(biāo)準(zhǔn)試塊；,,斜探頭：采用深度為,0. 72mm,、,60°V,型槽試塊。,,（,2,）掃查面及掃查方向：由于外表面有斜面，所

17、以圓周面上的掃查宜在內(nèi)表面進(jìn)行；兩端面中一個(gè)端面的截面厚度僅有,12mm,，不宜掃查，所以?xún)H在一個(gè)端面掃查，如圖所示。,（,3,）靈敏度校驗(yàn)方法：,,①,直探頭圓周面掃查：用,CSⅠ-1,、,CSⅠ-2,和,CSⅠ-3,試塊做,DAC,曲線(xiàn)。,,②,端面掃查：探測(cè)深度,500mm,，用,CSⅠ-4,試塊校驗(yàn)靈敏度，需要表面補(bǔ)償，如,2dB,。方法是：把,φ2/200,的平底孔回波調(diào)至,80%,滿(mǎn)屏高度，然后提高,18dB,（,40lg500/200+2=18dB,）。,,③,斜探頭掃查：用,60°V,型槽試塊做,DAC,曲線(xiàn)。,3,、鍛件檢測(cè)時(shí)要特別關(guān)注游動(dòng)回波，請(qǐng)回答：,,（,1,）什么是游

18、動(dòng)回波？,,（,2,）說(shuō)明下列缺陷游動(dòng)回波的特點(diǎn)：,,,①,體積狀缺陷；,,,②,切向裂紋；,,,③,徑向裂紋。,答：,,（,1,）在圓柱形軸類(lèi)鍛件檢測(cè)過(guò)程中，當(dāng)探頭沿著鍛件的外圓移動(dòng)時(shí)，示波屏上的缺陷波會(huì)隨著該缺陷檢測(cè)聲程的變化而游動(dòng)，這種游動(dòng)的動(dòng)態(tài)波形稱(chēng)為游動(dòng)回波。,,（,2,）體積狀缺陷：聲程從大,→,小,→,大，波高從小,→,大,→,??；,,切向裂紋：變化規(guī)律與體積狀缺陷相同，但反射波會(huì)急劇增大；,,徑向裂紋：聲程從大,→,小,→,大，波高從大,→,接近于零,→,大。,JB/T4730.3-2005,關(guān)于鋼板超聲檢測(cè)的,解釋?zhuān)?,１、縱波檢測(cè)：,,1,）、探頭：,,板厚,6,～,20m

19、m,,雙晶直探頭,, 5MHz,,晶片面積不小于,150mm,2;,,板厚,>20,～,40mm,,單晶直探頭,, 5MHz,,φ,14,～,φ,20 mm;,,板厚,>40,～,250mm,,單晶直探頭,, 2.5MHz,,φ,20,～,φ,25 mm.,◆,鋼板,2,）、試塊,,用單直探頭檢測(cè)厚度大于,20mm,的鋼板時(shí)，,CB,Ⅱ,標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖,2,和表,2,的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。經(jīng)合同雙方同意，也可采用雙晶直探頭進(jìn)行檢測(cè)。,,圖,2 CBⅡ,標(biāo)準(zhǔn)試塊,,,表,2 CBⅡ,標(biāo)準(zhǔn)試塊,,mm,試塊編號(hào),,鋼板厚度,,距離,s,試塊厚度,T,,CB,Ⅱ,-1 >

20、20,～,40 15,≥,20,,CB,Ⅱ,-2 >40,～,60 30,≥,40,,CB,Ⅱ,-3 >60,～,100 50,≥,65,,CB,Ⅱ,-4 >100,～,160 90,≥,110,,CB,Ⅱ,-5 >160,～,200 140,≥,170,,CB,Ⅱ,-6 >200,～,250 190,≥,220,,3,）、靈敏度校驗(yàn),,4.1.4.2,板厚大于,20mm,時(shí)，應(yīng)將,CB,Ⅱ,試塊,φ,5,平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿(mǎn)刻度的,50%,作為基準(zhǔn)靈敏度。,,4.1.4.3,板厚不小于探頭的三倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，也可取

21、鋼板無(wú)缺陷完好部位的第一次底波來(lái)校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與,4.1.4.2,的要求相一致。,,4,）、,,掃查方式,,,a),探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于,100mm,的平行線(xiàn)進(jìn)行掃查。在鋼板剖口預(yù)定線(xiàn)兩側(cè)各,50mm,（當(dāng)板厚超過(guò),100mm,時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)應(yīng)作,100%,掃查，掃查示意圖見(jiàn)圖,3,；,,b),根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查,,２、橫波檢測(cè),,１）、探頭,,B.2.1,原則上選用,K,1,斜探頭，圓晶片直徑應(yīng)在,13mm,～,25mm,之間，方晶片面積應(yīng)不小于,200mm,2,。如有特殊需要也可選用其他尺寸和,K,值的探頭。,,B.2.

22、2,檢測(cè)頻率為,2 MHz,～,5MHz,。,２）、對(duì)比試塊,,B.3.1,對(duì)比試塊用鋼板應(yīng)與被檢鋼板厚度相同，聲學(xué)特性相同或相似。,,B.3.2,對(duì)比試塊上的人工缺陷反射體為,V,形槽，角度為,60,°,，槽深為板厚的,3%,，槽的長(zhǎng)度至少為,25mm,。,,B.3.3,對(duì)比試塊的尺寸、,V,形槽位置應(yīng)符合圖,B.1,的規(guī)定。,,B.3.4,對(duì)于厚度超過(guò),50mm,的鋼板，要在鋼板的底面加工第二個(gè)如,B.3.3,所述的校準(zhǔn)槽。,,,,圖,B.1,對(duì)比試塊,,３）、基準(zhǔn)靈敏度的確定,,B.4.1,厚度小于或等于,50mm,的鋼板,,B.4.1.1,把探頭置于試塊有槽的一面，使聲束對(duì)準(zhǔn)槽的寬邊，

23、找出第一個(gè)全跨距反射的最大波幅，調(diào)整儀器，使該反射波的最大波幅為滿(mǎn)刻度的,80%,，在熒光屏上記錄下該信號(hào)的位置。,,B.4.1.2,移動(dòng)探頭，得到第二個(gè)全跨距信號(hào)，并找出信號(hào)最大反射波幅，記下這一信號(hào)幅值點(diǎn)在熒光屏上的位置，將熒光屏上這兩個(gè)槽反射信號(hào)幅值點(diǎn)連成一直線(xiàn)，此線(xiàn)即為距離,-,波幅曲線(xiàn)。,,B.4.2,厚度大于,50mm,～,150mm,的鋼板,,B.4.2.1,將探頭聲束對(duì)準(zhǔn)試塊背面的槽，并找出第一個(gè),1/2,跨距反射的最大波幅。調(diào)節(jié)儀器，使反射波幅為滿(mǎn)刻度的,80%,，在熒光屏上記下這個(gè)信號(hào)的位置。不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，在,3/2,跨距上重復(fù)該項(xiàng)操作。,,B.4.2.2,不改變儀器

24、調(diào)整狀態(tài)，把探頭再次置于試塊表面，使波束對(duì)準(zhǔn)試塊表面上的槽，并找出全跨距最大反射波的位置。在熒光屏上記下這一幅值點(diǎn)。,,B.4.2.3,在熒光屏上將,B.4.2.1,和,B.4.2.2,所確定的點(diǎn)相連接，此線(xiàn)即為距離,-,波幅曲線(xiàn)。,,B.4.3,厚度大于,150mm,～,250mm,的鋼板,,B.4.3.1,把探頭置于試塊表面，使聲束對(duì)準(zhǔn)試塊底面上的切槽，并找出第一個(gè),1/2,跨距反射的最大幅度位置。調(diào)節(jié)儀器，使這一反射波為熒光屏滿(mǎn)刻度的,80%,，在熒光屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn)。,,B.4.3.2,不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，把探頭再次置于試塊表面，以全跨距對(duì)準(zhǔn)切槽獲得最大反射，在熒光屏上記下這個(gè)幅值

25、點(diǎn)。,,B.4.3.3,在熒光屏上將,B.4.3.1,和,B.4.3.2,所確定的點(diǎn)連成一直線(xiàn)，此線(xiàn)即為距離,-,波幅曲線(xiàn),,４）、掃查方法,,B.5.1,在鋼板的軋制面上以垂直和平行于鋼板主要壓延方向的格子線(xiàn)進(jìn)行掃查，格子線(xiàn)中心距為,200mm,。,缺陷評(píng)定,4.1.6,缺陷的測(cè)定與記錄,,4.1.6.1,在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：,,,a),缺陷第一次反射波（,F1,）波高大于或等于,,滿(mǎn)刻度的,50%,，即,F1≥50%,；,,,b),當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ?B1,）波高未達(dá)到滿(mǎn),,刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波（,F1,）波,,高與底面第一次反射波（,B1,）波高之比大

26、,,于或等于,50%,，即,B1<100%,，而,F1/B1≥50%,；,,,c),底面第一次反射波（,B1,）波高低于滿(mǎn)刻度的,,,50%,，即,B1,＜,50%,。,試題舉例,1,、對(duì)筒體鋼板進(jìn)行入廠(chǎng)驗(yàn)收，尺寸為,7850×2552×100mm,，請(qǐng)按,JB/T4730.3-2005,標(biāo)準(zhǔn)，確定超聲檢測(cè)方法，包括探頭﹑試塊﹑靈敏度校驗(yàn)和掃查方式。,答：,（,1,）探頭：,2.5P20Z,,（,2,）試塊：,CBⅡ-3,,（,3,）靈敏度校驗(yàn)：把,CBⅡ-3,試塊,φ,５平底孔第一次,,反射波高調(diào)整到滿(mǎn)刻度的,50%,作為基準(zhǔn)靈敏度。,,（,4,）掃查方式：探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不,

27、,大于,100mm,的平行線(xiàn)進(jìn)行掃查。在鋼板四周各,,,50mm,內(nèi)應(yīng)作,100%,掃查，,2,、按,JB/T4730.3-2005,標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，鋼板檢測(cè)時(shí)應(yīng)根據(jù)厚度選擇探頭的型式和參數(shù)，請(qǐng)說(shuō)明理由。,答：,,（,1,）板厚,6,～,20mm,時(shí)，應(yīng)采用,5MHz,，晶片面積不小于,150mm,2,的雙晶直探頭，這是因?yàn)殡p晶探頭采用一發(fā)一收晶片，使聲場(chǎng)聚焦，有以下特點(diǎn)：,1,）盲區(qū)小；,2,）信噪比高；,3,）檢測(cè)區(qū)域靈敏度高。所以對(duì)較薄的工件一般采用雙晶直探頭檢測(cè)。,,（,2,）板厚,>20,～,40mm,時(shí)，應(yīng)采用,5MHz,，,φ14mm,～,φ20mm,的直探頭，這時(shí)厚度相對(duì)來(lái)說(shuō)還是不大

28、，使用較高的頻率是為了提高靈敏度和分辨率，使用較小尺寸的晶片是為了減小近場(chǎng)和盲區(qū)。,,（,3,）板厚,>40,～,250mm,時(shí)，應(yīng)采用,2.5MHz,，,φ20mm,～,φ25mm,的直探頭，這時(shí)厚度較大，使用較低頻率和較大尺寸的晶片是為了提高聲束的穿透能力和掃查效率。,3,、鋼板檢測(cè)時(shí)，為什么要求探頭沿垂直于鋼板的壓延方向進(jìn)行掃查？,答：因?yàn)殇摪宓娜毕荽蟛糠质茄刂鴫貉臃较虻?，所以垂直于壓延方向掃查不容易漏檢缺陷。,4,、按,JB/T4730.3-2005,標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，如果鋼板厚度,≧3N,，可使用底波來(lái)校驗(yàn)靈敏度，請(qǐng)問(wèn)對(duì),3N,以?xún)?nèi)的缺陷是否應(yīng)采用試塊比較法進(jìn)行評(píng)定？說(shuō)明理由。,,答：,,不

29、用，因?yàn)殇摪鍣z測(cè)時(shí)對(duì)缺陷的評(píng)定不采用當(dāng)量法。,5,、鋼板檢測(cè)時(shí)，用試塊法校驗(yàn)基準(zhǔn)靈敏度，發(fā)現(xiàn)有,2,個(gè)缺陷信號(hào)，其參數(shù)如下：,,缺陷,①,：,F1=45%,滿(mǎn)屏刻度，此時(shí),B1=85%,滿(mǎn)屏刻度，尺寸,70mm×40mm,；,,缺陷,②,：,F1=46%,滿(mǎn)屏刻度，此時(shí),B1=95%,滿(mǎn)屏刻度，尺寸,150mm×150mm,。,,兩個(gè)信號(hào)間距為,120mm,，深度均為,65mm,，請(qǐng)對(duì)鋼板質(zhì)量予以評(píng)級(jí)并說(shuō)明理由。,答：,,缺陷,① F1=45%,滿(mǎn)屏刻度，此時(shí),B1=85%,滿(mǎn)屏刻度，,F1/B1=52%>50%,，應(yīng)作為缺陷；又因?yàn)槿毕菝娣e為,28cm,2,，所以應(yīng)評(píng)為,Ⅱ,級(jí)。,,缺陷,②

30、 F1=46%,滿(mǎn)屏刻度，此時(shí),B1=95%,滿(mǎn)屏刻度，,F1/B1=48%<50%,，此信號(hào)不作為缺陷。,,綜合評(píng)定鋼板質(zhì)量為,Ⅱ,級(jí)。,,6,、已知由于材料衰減的差別，鋼板的一次底波比標(biāo)準(zhǔn)試塊的一次底波低,6dB,（鋼板與試塊的厚度都為,130mm,），如果用底波法校驗(yàn)基準(zhǔn)靈敏度，則題,5,中的缺陷幅度和底波幅度會(huì)發(fā)生什么變化？請(qǐng)?jiān)俅螌?duì)上述缺陷進(jìn)行評(píng)級(jí)（假定缺陷尺寸不變）。,答：因?yàn)橛玫撞ǚㄐｒ?yàn)基準(zhǔn)靈敏度，鋼板的一次底波比標(biāo)準(zhǔn)試塊的一次底波低,6dB,，所以基準(zhǔn)靈敏度與試塊法比會(huì)提高約,6dB,，這樣底波會(huì)提高,6dB,，缺陷深度為,65mm,，缺陷幅度會(huì)提高,3dB,。折算成幅度：,,缺陷,① F1=64%,滿(mǎn)屏刻度，此時(shí),B1=170%,滿(mǎn)屏刻度，因?yàn)?F1=64%>50%,，應(yīng)作為缺陷；又因?yàn)槿毕菝娣e為,28cm,2,，所以應(yīng)評(píng)為,Ⅱ,級(jí)。,,缺陷,② F1=66%,滿(mǎn)屏刻度，此時(shí),B1=190%,滿(mǎn)屏刻度，,F1=66%>50%,，應(yīng)作為缺陷；又因?yàn)槿毕葜甘鹃L(zhǎng)度,150mm,，所以應(yīng)評(píng)為,Ⅴ,級(jí)。,,綜合評(píng)定鋼板為,Ⅴ,級(jí)。,謝 謝,!,