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1、MV_RR_CNJ_0038 金相顯微鏡檢定規(guī)程
1. 金相顯微鏡檢定規(guī)程的說明
編號
JJG(教委)012-1996
名稱
(中文) 金相顯微鏡檢定規(guī)程
(英文) Verification regulation for metallographic microscope
歸口單位
國家教育委員會
起草單位
國家教育委員會
主要起草人
王甫培
批準日期
1997 年 1 月 22 日
實施日期
1997 年 4 月 1 日
替代規(guī)程號
無
適用范圍
本規(guī)程適用于新安裝、使用中或修理后的大中型金相顯微鏡的檢
定。
主要技術要求
1.外觀要求
2、
2.安裝條件
3.檢定環(huán)境
4.檢定設備
5.檢定項目和檢定方法
是否分級
無
檢定周期(年)
2
附錄數(shù)目
1
出版單位
科學技術文獻出版社
檢定用標準物質(zhì)
相關技術文件
備注
2. 金相顯微鏡檢定規(guī)程的摘要
2 范圍
本規(guī)程適用于新安裝、使用中或修理后的大中型金相顯微鏡的檢定。
2.1 原理 儀器是用于研究觀察金屬、陶瓷、礦石等有透明固體物質(zhì)的組織結構。它是利用照明光
在樣品上的反向，經(jīng)透鏡的折射，把原來用眼無法觀察到的組織結構，經(jīng)物鏡和目鏡兩個光 學放大系統(tǒng)放大后，獲得清晰的圖像。顯微鏡的放大倍數(shù)等于物鏡和目鏡放大倍數(shù)之
3、積。可 寫成：
式中 M ——放大倍數(shù)
△/Fob——物鏡放大倍數(shù)
D/Fok——目鏡放大倍數(shù)
△ ——鏡筒長度
Fob ——物鏡焦距
M＝△/FobD/Fok (1)
D ——常數(shù)，250mm
Fok ——目鏡焦距
2.2 構成 載物臺、照明系統(tǒng)、顯微鏡放大系統(tǒng)、攝影系統(tǒng)。
3 計量單位 (毫米(mm)微米(μm)符合GB3102.6—93要求)
4 計量要求
4.1 計量特性
4.1.1 物鏡分辨率：高倍(40以上)物鏡，分辨0.30μm，物鏡放大倍數(shù)精確度達5％以 內(nèi)。
4.1.2 總放大倍數(shù)：20～2000范圍
4.1.3
4、光源：鹵素燈及氙燈
4.1.4 功能：明視場、暗視場、偏振光、干涉、微分干涉襯度、特殊附件、顯微硬度、宏 觀裝置。
5 技術要求
5.1 外觀要求 儀器應有下列標志、名稱、型號、制造廠名、出廠日期、儀器號等項標志，并附有出廠
合格證和使用說明書。
5.2 安裝條件
5.2.1 應將儀器安裝在通風、避陽光干燥的房間內(nèi)，儀器放置于平穩(wěn)防震動的工作臺上， 電源接插件應緊密配合，有良好接地線，接入儀器電源前應有穩(wěn)壓器。
5.2.2 儀器主機、光源、濾色片、孔徑光柵、粗細調(diào)節(jié)鈕、攝影系統(tǒng)及附件均完好無損、 物鏡、目鏡等附件應無霉斑。
5.3 檢定環(huán)境
5.3.1 電源電壓：單相(
5、22010)V，50Hz。
5.3.2 室內(nèi)溫度15℃～30℃。
5.3.3 環(huán)境相對濕度：≤70％
5.3.4 儀器不受陽光直接照射，室內(nèi)無腐蝕性氣體，通風良好。
5.3.5 顯微鏡平穩(wěn)放置于工作臺上，無振動。
5.4 檢定設備
5.4.1 標準物鏡測微尺0.01mm分刻度板和目鏡測微尺0.1mm分刻度板(或與目鏡一體)。
5.5 檢定項目和檢定方法
5.5.1 外觀檢定按5.1進行。同時對物鏡及光路上附件檢定基本上無霉斑更不能影響觀察及 攝像。
5.2.2 光路檢定：方法，將樣品放置于載物臺上，打開光源并對中心，然后照明光進入光 路，調(diào)整孔徑和視場光欄到合適程度，用粗細調(diào)
6、節(jié)鈕對樣品聚焦能觀察到清晰且光線均勻的 物像為止。
5.2.3 載物臺中心檢定方法：把樣品放置于載物臺上，在目鏡筒中看到物像，取其一特征 點移至觀察中心，然后轉動載物臺(0～180轉動)而其特征點仍在中心(原位)或略偏離中 心少許。
5.5.4 物鏡實際放大倍數(shù)檢定方法：將0.01mm分刻度板放置在載物臺上，又將待檢的物鏡 裝上(如10)轉到工作位置，把0.1mm分刻度目鏡測微尺插入光路中，然后對0.01mm分刻度 板聚焦觀察0.1mm分刻度的格數(shù)與0.1mm分刻度多少格相重合，通過計算，得物鏡實際放大
倍數(shù)
M＝
目鏡分刻度格數(shù)0.1
(2)
物鏡分刻度格數(shù)0.
7、01
5.5.5 視場面積檢定方法：在物鏡和目鏡配合下測定視場內(nèi)的面積，用目鏡測微尺分別測 出視場橫向、縱向的直徑，然后取其算術平均值，得視場面積
S＝πd2/4 (3)
式中d為視聲平均直徑 面積愈大，觀察樣品的范圍愈大。
5.5.6 顯微鏡功能檢定：逐一對明視場、暗視場、偏振光、干涉、微分干涉襯度等附件裝 上，進行觀察，均能達到其應有的效果。圖像清晰，附有顯微硬度附件檢定其壓痕值是否與 標準塊相符確定其正確性。
5.5.7 光源對中檢定，按儀器型號不同，方法有所區(qū)別，但原理是一致的，通過調(diào)整光源 位置(前后左右)使光源燈絲像落在視場范圍的中心位置。
6 計量管理
6.1 檢定結果處理 經(jīng)檢定后的儀器，發(fā)給檢定證書。在檢定結論中需明確說明被檢定的儀器應屬于何種級
別，是否合格，存在的問題和建議等。
6.2 檢定周期
6.2.1 新安裝和修理后的儀器應按本規(guī)程進行首次檢定。
6.2.2 儀器的檢定周期為2年。
注: 需要查閱全文, 請與出版發(fā)行單位聯(lián)系.
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