齒輪測量機設(shè)計

購買設(shè)計請充值后下載，資源目錄下的文件所見即所得，都可以點開預(yù)覽，資料完整，充值下載可得到資源目錄里的所有文件?！咀ⅰ浚篸wg后綴為CAD圖紙，doc,docx為WORD文檔，原稿無水印，可編輯。具體請見文件預(yù)覽，有不明白之處，可咨詢QQ:12401814 聚合反應(yīng)器的測量和控制約翰.理查茲著，鄧霜霖譯摘要 由于其物理機制的復(fù)雜性和聚合反應(yīng)動力學(xué)，聚合反應(yīng)器中的測量和控制是非常具有挑戰(zhàn)性的。在這些反應(yīng)器中，有許多重要的變量，這些變量與最終使用的聚合物的性質(zhì)，不能進行在線測量或在只能低采樣頻率下測量。此外，共聚組合物的最終用途的聚合物性能與整個分子量，序列長度，分支分布有關(guān)。本文調(diào)查的儀器技術(shù)，是聚合反應(yīng)器的重點，例如，粘度，組合物，分子量，和粒子大小。本文為控制系統(tǒng)設(shè)計、回顧傳統(tǒng)的管理技術(shù)以及先進控制策略、半間歇，連續(xù)反應(yīng)器提出了分層的方法。這些方法是針對商業(yè)的連續(xù)乳液聚合反應(yīng)器的控制說明。最后，本文抓住一些聚合物中的行業(yè)趨勢，可能影響未來的發(fā)展度和反應(yīng)器的控制。2006 Elsevier公司保留所有權(quán)利。關(guān)鍵詞：過程控制；聚合反應(yīng)；溶液聚合；乳液聚合；數(shù)學(xué)模型；反應(yīng)器控制1 引言對于終端客戶制造商，一致的聚合物性能最為重要，他們必須為了最后的應(yīng)用，在最終外觀和形狀方面生產(chǎn)聚合物。這些屬性是由于復(fù)雜的聚合物結(jié)構(gòu)和成分形成的反應(yīng)和可能進一步影響隔離和擠壓過程。產(chǎn)生一致的,統(tǒng)一的,在規(guī)范聚合物為最終用戶是任務(wù)的聚合物過程測量和控制系統(tǒng)。聚合物過程,是否分批或連續(xù),很少在具體條件下運行;干擾移動過程遠離期望軌跡。然而,為了操作這些過程安全、為了設(shè)置特點的產(chǎn)品,最優(yōu)的一組過程的操縱變量必須保持恒定或系統(tǒng)地修改過程中反應(yīng)或過程中的各種反應(yīng)步驟。聚合物反應(yīng)工程從成立之初到目前挑戰(zhàn)并存的今天，雷，蘇亞雷斯和哈欽森（2004）最近評論了其高分子科學(xué)。這種貢獻的目的是討論各種測量和控制技術(shù)的重要性,工程師和科學(xué)家們設(shè)計和操作聚合物反應(yīng)堆和相關(guān)設(shè)備。我們已經(jīng)試圖總結(jié)和更新信息，已提供在我們先前的工作(Congalidis &理查茲,1998;理查茲& Congalidis,2005;理查茲& Schnelle,1988)。 在圖形1中，我們討論的框架是分層方法。這已經(jīng)被證明是非常有用的，復(fù)雜的工業(yè)環(huán)境中的成功應(yīng)用，過程控制，提前審查由理查茲和Schnelle的（1988）中所示。一直以來，我們自己的經(jīng)驗和學(xué)習(xí)，同一層次的控制在聚合物反應(yīng)器中尤為重要。 流程知識,通常是捕獲一個數(shù)學(xué)模型,通過實驗驗證的基石,得到一個成功的控制策略。尤其是對于聚合反應(yīng)堆, 處理操作中對聚合物性能有影響的操作變量的深入知識可以使控制系統(tǒng)的設(shè)計有很大的優(yōu)勢，并可能導(dǎo)致在一個更為明了的策略。這一點將在第3節(jié)中，特別是通過使用圖所述的例子中示出。如圖 2和3。使用聚合反應(yīng)器建模結(jié)合控制設(shè)計討論了作者在前面的出版物(Congalidis,理查茲,和雷,1989)。流程知識連同適當(dāng)?shù)膫鞲衅?、變送器、和分析儀,前提條件是設(shè)計的基本控制系統(tǒng)來調(diào)節(jié)壓力、溫度、水平,和流(PTLF)。只有當(dāng)元素的監(jiān)管控制系統(tǒng)是在地方和設(shè)計合理并保持可以控制工程師嘗試,遞增的順序復(fù)雜性,實現(xiàn)更高級的監(jiān)管控制策略,基于模型的多變量控制算法,和在線調(diào)度和優(yōu)化策略計算設(shè)置點監(jiān)管控制。在許多情況下，先進控制應(yīng)用都失敗了，因為算法在工業(yè)環(huán)境中不存在故障，但因為基本的監(jiān)管控制系統(tǒng)表現(xiàn)不佳，要么是因為設(shè)計不足（導(dǎo)致在開環(huán)模式下操作），或者因為維護不善的關(guān)鍵測量（即過程分析儀）。在其他情況下，基本的監(jiān)管控制可能已經(jīng)到位，但一些先進的監(jiān)管控制的元素（例如級聯(lián)控制和比例控制）不落實導(dǎo)致降解反應(yīng)器性能一致的聚合物性能方面。在這方面的貢獻，我們曾試圖控制主題，我們認為應(yīng)該是在聚合物行業(yè)的工程師和科學(xué)家的廣泛興趣。因此，我們已經(jīng)當(dāng)選為討論它們適用于聚合物反應(yīng)器控制完全實現(xiàn)較低水平的控制是顯而易見的學(xué)術(shù)界或執(zhí)業(yè)經(jīng)驗豐富的工業(yè)過程控制層次結(jié)構(gòu)的所有元素。2 測量技術(shù) 以選擇的測量技術(shù)主要由測量值，由必須被測量的變量的準(zhǔn)確性。測量儀器產(chǎn)生一個信號，它可以被注冊的一種指示器或記錄設(shè)備，并進行進一步處理以這樣一種方式，必須被轉(zhuǎn)換。這個要求通過一些測量方法可直接實現(xiàn)，但是，在大多數(shù)情況下，一個測量變送器傳感器和測量裝置之間的操作。電氣信號更常用的今天比氣動信號。指定聚合物過程的測量技術(shù)，我們將集中討論。在測量過程中，可以引入隨機誤差?？梢宰钚』倪^程和測量噪聲的影響，信號調(diào)理或濾除（理查茲Congalidis，2005年Seborg，埃德加，Mellichamp，2004年）。所有的技術(shù)來遵循先進、代表聚合物測量在這里列出原因或者是他們的新奇或其頻繁的利用率,與多個技術(shù)目前即使在一個單獨的安裝?？偨Y(jié)表在線硬件傳感器分類技術(shù)對聚合反應(yīng)堆可以在Kammona發(fā)現(xiàn),關(guān)聯(lián)性有顯著的統(tǒng)計學(xué)意義, Kiparissides(1999)。2.1PTLF測量壓力，溫度，液位，和重量是非常重要的基本測量聚合物過程。他們形成的監(jiān)管和先進的控制策略的基石。這些測量都能在Richards 和Congalidis (2005) 和Lipt ak (2003)查到。2.2光密度，熱膨脹儀和重力 液體的密度進行位移和浮子式研究室,摘要,和靜壓研究室。更先進的儀器是振蕩科里奧利,輻射、振動和超聲研究室。許多這些儀器可以連接圖度量或機械生產(chǎn)可用電信號(Liptak,2003)。 膨脹計測量的液體聚合反應(yīng)過程中的體積收縮，主要用于實驗室測量的單體轉(zhuǎn)化。它們都是基于聚合物密度比單體的原則。作為單體轉(zhuǎn)化為聚合物量的變化是監(jiān)測通過帶刻度的毛細管內(nèi)的溶液高度的變化。轉(zhuǎn)換監(jiān)測與計算機聯(lián)光電探測器，跟蹤半月板中的毛細管和記錄的高度變化（羅德里格斯，科恩，奧伯蓋特林，阿徹，2003）。2.3粘度測量 粘度是為了遵循一個聚合反應(yīng)的過程中，或連續(xù)監(jiān)測產(chǎn)品質(zhì)量的聚合物技術(shù)的興趣。粘度是常數(shù)（牛頓），剪切增稠（脹流），或剪切變?。伲┡c剪切速率。對于聚合物體系中，溶液或熔體的粘度，可以與該聚合物的分子量（Kammona等人，1999; Lipt楹阿克，2003年，羅德里格斯等人，2003）。在大多數(shù)情況下，粘度的測定通過毛細管相的cometers或旋轉(zhuǎn)粘度計。毛細管粘度計也可以采用線監(jiān)測維加，利馬，平托（2001年）中所描述的聚合分子量獲得快速和廉價的分子大小是衡量一個間接的方法是熔融指數(shù)（Rodriguez等2003年）。熔融指數(shù)是閾作為直徑和8mm長通過毛細管2.1毫米的在一定的溫度和壓力（ASTMD1238）在10分鐘內(nèi)擠出的聚合物克數(shù)。顯而易見的是，熔體指數(shù)的聚合物的分子量成反比變化。2.4組合物的測量 原材料的成分、成品樣品的各個步驟的反應(yīng)通常是在實驗室測量使用適當(dāng)?shù)奈锢砗突瘜W(xué)分析方法。然而,取樣和分析是耗時的,并且在許多情況下,這種分析的結(jié)果是只有當(dāng)前的利益。為了不斷學(xué)會操作儀表組成,需要自動運行分析工具,可以不斷獲得成分的混合物。光學(xué)方法是常見的紅外光譜分析在許多情況按照許可證的外觀或消失的一個或更多的特征吸收頻段。這些頻段對應(yīng)債券分子的振動頻率。必須分析的頻譜照射，然后測量其相應(yīng)頻率。最近的傅里葉變換紅外（FTIR）技術(shù)已被用于更快的數(shù)據(jù)采集和處理比傳統(tǒng)的紅外光譜分析。IR和FTIR可應(yīng)用于聚合物溶液或固體閾夸勾毫秒組合物分析是特別有用的共聚物組合物紅外光譜已被用來控制聚合反應(yīng)器中產(chǎn)生的溶液聚合物編分子量（奧斯曼，F(xiàn)evotte Peycelon，Egraz，及Suau，2004）。光學(xué)分析裝置，還內(nèi)置了用于測量輻射的紫外線（UV）和可見光譜區(qū)域，但此處得到的光譜吸收帶，通常是如此廣泛這些設(shè)備只有有限的使用。 一種質(zhì)譜儀源產(chǎn)生離子和有關(guān)樣本的信息可以通過分析與樣品相互作用，當(dāng)他們使用的質(zhì)量電荷比的離子的分散液。有時質(zhì)譜儀后用一個分離步驟如氣相色譜或液相色譜對分?jǐn)?shù)識別。2.5表面張力在乳液聚合中，特別是它可能是感興趣的測量乳化液的表面張力。的表面張力，可以給一個指示是否膠束的存在，這是重要的，在上述顆粒的成核劑的臨界膠束濃度（CMC）（朔爾克，1993;朔爾克Deshpande說，Leffew的，1993年）。網(wǎng)上的方法采用的是通常的氣泡壓力法（朔爾克等人，1993）。2.6分子量分布（MWD） 對于一個給定的直接列校準(zhǔn)聚合物要求使用窄分子量分布的聚合物樣品。這些標(biāo)準(zhǔn)的色譜圖的峰和每個標(biāo)準(zhǔn)給狹窄有關(guān),滯留量的峰值最大。有許多聚合物同時狹窄的隨鉆測量標(biāo)準(zhǔn)是商業(yè)上可用。最近三探測器儀器設(shè)計,其中包括一個微分粘度計、光散射儀器,和一個微分折射計帽子監(jiān)視柱流出物。一個校準(zhǔn)曲線可以得到這個安排只要所有信號校準(zhǔn)(羅德里格斯等。,2003)。 在線的目的,粘度措施之前2.3節(jié)中提到的已被用來作為替代分子量平均在線控制。有些供應(yīng)商是商業(yè)化更迅速的GPC /秒儀器在線控制與一些儀器已經(jīng)可用。2.7 粒度分布(PSD)粒子大小分布可以有一個基本的物理性質(zhì)影響群眾,是常見的高分子產(chǎn)品。測量的平均粒度可能是不夠的。例如,出現(xiàn)大小不同的人口導(dǎo)致多峰分布可以深刻影響著最后的屬性和可能需要被控制。有幾種粒度測量技術(shù)使用如光學(xué)成像、電子成像、光學(xué)衍射和散射,電阻變化、過篩、沉降、超聲波衰減(Liptak,2003)。毛細水動力分餾(CHDF)是一個水動力法測量毫微米大小的微粒。在這個方法中,泥漿含有顆粒是通過迫使一個毛細管?？蓽y粒徑范圍nm-2m CHDF大約是15。在線控制,這些技術(shù)必須被評估為速度、可靠性和樣品死時間(Liptak,2003)。在隨鉆測量技術(shù),制造商正朝著最近的在線實現(xiàn)方法,但許多這些技術(shù)仍然是熟練的在這個過程中分析實驗室離線。3 先進的監(jiān)管控制3.1控制器和致動器測量儀器供應(yīng)信息在當(dāng)前操作條件的一種植物。這些形式的基礎(chǔ),控制過程和保持條件常數(shù),以便得到最優(yōu)質(zhì)量的結(jié)果。為了這個目的,控制器也被使用,它是設(shè)備,目的是保持一個特定的控制變量恒定盡管外部干擾。在過去,大部分的控制器連續(xù)控制器,但數(shù)字控制器已成為常見的由于計算機的廣泛應(yīng)用和分布式控制系統(tǒng)。數(shù)字信號是離散的性質(zhì)和產(chǎn)生于取樣連續(xù)測量,在同等的時間間隔或他們可能源于自然的離散信號,例如,從分析程序。一個更廣泛的討論中可以找到理查茲和Congalidis(2005)。3.2聚合物反應(yīng)堆控制問題在聚合反應(yīng)器通常在生產(chǎn)過程的核心影響下游加工和最終相關(guān)的聚合物性質(zhì)。下列因素造成了工業(yè)意義的聚合物反應(yīng)堆控制: (1)需要改進固定資產(chǎn)生產(chǎn)率優(yōu)化反應(yīng)堆產(chǎn)量和正常運行時間。（2）較短的制造業(yè)活動的趨勢，不同的聚合物制造的檔次在同一反應(yīng)器或向更頻繁上線的產(chǎn)品轉(zhuǎn)換，降低產(chǎn)品庫存，因此營運資金。（3）全球競爭，這不僅規(guī)定了嚴(yán)格要求聚合物級的均勻性，但也需要新的聚合物類型商品化的時間盡可能短。（4）安全和環(huán)境方面的考慮，對于一個潛在的熱不穩(wěn)定的反應(yīng)的穩(wěn)定運行。3.3前饋控制傳統(tǒng)的PID反饋控制器是非常廣泛的使用，因為它需要為其設(shè)計的最小的工藝知識。特別是，一個數(shù)學(xué)模型的過程不是必需的，雖然它可以是相當(dāng)有用的，進行適當(dāng)?shù)奈⒄{(diào)。此外，如果工藝條件的變化，PID控制器可以被重新調(diào)整，以保持令人滿意的性能。正確調(diào)整PID控制器可以相當(dāng)穩(wěn)健，保持良好穩(wěn)定的狀態(tài)下運行在面對不可測干擾。然而，由于控制操作只能發(fā)生，如果發(fā)生偏離設(shè)定點和測量變量之間，完美的控制是不可能的。因此，反饋控制無法提供預(yù)測的控制行動，以補償已知的干擾的影響。一個更嚴(yán)重的限制，這是特別重要的聚合物的反應(yīng)器控制，受控變量不能總是在線測量。3.3.1穩(wěn)態(tài)模型前饋控制為了說明這種方法的Congalidis聚合過程描述和理查茲(1998)被認為是。存在的循環(huán)流反應(yīng)器中引入了干擾,擾亂聚合物性質(zhì)飼料。前饋控制的目的是為了彌補這些干擾通過操作新鮮飼料為了保持常數(shù)飼料成分和流向反應(yīng)器。前饋控制的循環(huán)允許設(shè)計師來獨立控制反應(yīng)堆從其余的過程。前饋控制的方程式(1)和(2)得到編寫組件材料余額在循環(huán)之外點。例如對于單體流這種平衡是:qna3 = qna1 + ya2qn2 (1)qna1 = qna3 ya2qn2 (2)3.3.2 比例控制比例控制是一種前饋控制，在化學(xué)工業(yè)中被廣泛應(yīng)用，并已證明非常有用用在反應(yīng)堆控制。從它的名字是顯而易見的，其目的是兩個過程變量的比值保持在一個給定的值，因此它可以被部署時，目的是維持一定的比例，或化學(xué)計量比，向反應(yīng)器中的反應(yīng)物。雖然這個概念是相當(dāng)明顯的，我們已經(jīng)看到，它已不被廣泛應(yīng)用于聚合物反應(yīng)器控制，尤其是在反應(yīng)器的情況下，生產(chǎn)特種聚合物與復(fù)雜的聚合配方。通常情況下，閾控制器被設(shè)計為每一個反應(yīng)器進料流（例如，單體，引發(fā)劑，鏈轉(zhuǎn)移劑），這些控制器的每一個都有一組點，這是依賴于特定的聚合物。然而，當(dāng)比控制來實現(xiàn)，如圖4所示，一個反應(yīng)器進料流（在這種情況下的A）被選擇作為參考流的單體。所測得的閾夸抗瓦特率的單體A，然后傳送到比站RC，由所期望的比例（通常由聚合物化學(xué)家）計算閾單體B控制器的設(shè)置點的信號3.4 串級控制廣泛應(yīng)用于化學(xué)加工工業(yè)，特別是在案件串級控制，有可能是非線性控制回路的動態(tài)行為。它還涉及傳統(tǒng)的反饋控制的主要缺點，即控制行動的事實，只發(fā)生在控制變量偏離設(shè)定點。串級控制與前饋控制，干擾被顯式計量和模型可用來計算控制器的輸出，引入了一個額外的測量和一個額外的反饋控制器。通常位于二級計量，以便它能夠識別底價條件比控制變量更快。串級控制的概念已被廣泛使用，以獲得有效的反應(yīng)器的溫度控制。在許多情況下聚合反應(yīng)堆操作絕熱地。對于圖5所示,僅限于傳統(tǒng)的反饋控制使用,測量反應(yīng)堆的溫度被用來操縱換熱器流來冷卻反應(yīng)堆提要,以便反應(yīng)堆絕熱溫升足以消除聚合熱。這種傳統(tǒng)的方案可能會做一份滿意的工作溫度的調(diào)節(jié)反應(yīng)堆而干擾,發(fā)生在喂線可能會導(dǎo)致一個相當(dāng)緩慢的響應(yīng)的溫度控制器。聚合物性能對溫度非常敏感的小假期,并在許多情況下,這種反應(yīng)遲緩的溫度控制回路可能不是可接受的。串級控制如圖6解決了問題,引入一個額外的測量即溫度反應(yīng)堆的飼料和額外的控制器。4 先進的監(jiān)控4.1 前饋反饋控制結(jié)合前饋和反饋控制提供了一個非常強大的實用策略控制聚合物的性質(zhì),如組成和分子量。通常情況下,它仍然是很難有在線直接測量聚合物組成,所以控制設(shè)計必須結(jié)合可用脫機反應(yīng)堆樣品成分測量結(jié)果在實驗室通常采用紅外和核磁共振技術(shù)。同樣,盡管進展大小排阻色譜法/凝膠滲透色譜技術(shù)(秒/ GPC),在線秒/ GPC并不經(jīng)常用于大多數(shù)工業(yè)聚合物反應(yīng)堆控制應(yīng)用程序。因此,在許多情況下,控制工程師必須依靠離線測量分子量并將其包含在控制策略。一個額外的困難在控制聚合物的特性是,在某些情況下控制問題是多元的,在這個意義上,有相互作用的分子重量和構(gòu)成循環(huán),因此當(dāng)一個操縱變量選擇控制分子量它可能影響成分。使用過程是很重要的知識驗證選擇的操縱變量。例如,對于聚合反應(yīng)堆顯示在圖3過程模擬表明,聚合物質(zhì)量的一種方法是解耦控制利用事實自然是非常敏感的聚合物成分變化飼料配合但固有粘度反應(yīng)器是相對遲鈍反應(yīng)堆飼料成分的變化。如前所述在Congalidis 等。(1989)存在一個更正式的方法對反饋控制系統(tǒng)設(shè)計。它包括創(chuàng)建一個近似線性多變量模型的非線性高分子反應(yīng)堆模型使用步驟測試數(shù)據(jù)。11西安工業(yè)大學(xué)學(xué)士學(xué)位論文齒輪測量機設(shè)計目錄摘要1Abstract2主要符號表11 緒論11.1引言11.2研究意義11.3國內(nèi)外發(fā)展?fàn)顩r11.4本文的主要任務(wù)32 齒輪測量原理與總體方案設(shè)計42.1齒輪齒形測量的方法與誤差分析42.1.1齒形誤差的定義42.1.2齒形誤差測量方法42.1.3齒形測量范圍的確定42.1.4齒形誤差評定與分析62.2齒輪齒向測量的方法與誤差分析82.2.1齒向誤差的定義82.2.2齒向誤差測量方法82.2.3齒向誤差評定與分析82.3 總體方案設(shè)計103 板卡操作113.1接口方案113.2 HY6040板卡介紹及操作113.3 HY6110板卡介紹及操作113.4 CA220-PCI123.4.1 CA220-PCI簡介123.4.2 CA220-PCI操作過程124 EFRS-401MZ齒輪測量機軟件設(shè)計144.1開發(fā)軟件簡介144.2用戶需求144.3軟件的界面設(shè)計154.3.1界面應(yīng)具備的功能元素154.3.2具體界面設(shè)計164.4總體程序流程圖204.5分功能模塊的實現(xiàn)224.5.1齒形測量程序流程設(shè)計224.5.2數(shù)據(jù)處理程序流程設(shè)計234.5.3數(shù)據(jù)采樣流程及部分程序代碼254.5.4按鍵掃描流程圖設(shè)計265 伺服機械子系統(tǒng)設(shè)計及校核295.1原理方案設(shè)計295.2結(jié)構(gòu)方案設(shè)計295.2.1結(jié)構(gòu)布局295.2.2驅(qū)動裝置295.2.3傳動系統(tǒng)305.2.4滾動導(dǎo)軌305.3伺服機械子系統(tǒng)設(shè)計計算305.3.1伺服電機的選擇305.3.2設(shè)計并校核齒輪315.3.3同步帶傳動設(shè)計335.3.4導(dǎo)軌設(shè)計355.3.5各支承件的設(shè)計355.4強度校核365.4.1伺服電機校核365.4.2軸承校核376 結(jié)論387 致謝39參考文獻403主要符號表n 轉(zhuǎn)速 F 集中載荷，力V 線速度 M 彎矩，力矩 傳動效率 計算拉壓應(yīng)力P 功率 E 材料的彈性模量i 傳動比 L、l 長度T 轉(zhuǎn)矩 齒形系數(shù)Z 齒輪齒數(shù) J 轉(zhuǎn)動慣量m 模數(shù) 應(yīng)力校正系數(shù)d 直徑 K 載荷系數(shù)KV 動載荷系數(shù) B 寬度a 中心距 ZE 彈性影響系數(shù)KA 使用系數(shù) ZP 接觸系數(shù)Vs 相對滑動速度 N 應(yīng)力循環(huán)次數(shù) 載荷分布不均系數(shù) KHN 壽命系數(shù) 11 緒論1 緒論1.1引言 齒輪傳動是廣泛應(yīng)用于機器和儀表中的一種重要形式。它用來傳遞位移、速度和動力。隨著我國汽車摩托車制造業(yè)的迅速發(fā)展，汽摩齒輪制造業(yè)也得到了空前快速的發(fā)展。盡快成為汽摩齒輪的全球制造與供應(yīng)基地，是我國齒輪制造業(yè)的總體發(fā)展戰(zhàn)略，并已經(jīng)成為我國眾多齒輪制造商的共識。航空航天工業(yè)的崛起、造船業(yè)的興盛、機械裝備制造業(yè)的復(fù)蘇以及IT行業(yè)的快速發(fā)展，都對齒輪制造業(yè)提出了更高的要求，也提供了前所未有的機遇。無論是國有企業(yè)、股份公司還是民營企業(yè)，齒輪制造商在擴大齒輪產(chǎn)量、品種的同時，更加注重提高齒輪制造質(zhì)量。為此，最近幾年來在引進技術(shù)、購置設(shè)備、更新工藝、加強信息化管理等技術(shù)改造和技術(shù)升級方面進行了大量的投入；強化并提高齒輪制造全過程的測量與監(jiān)控技術(shù)水平獲得了空前的重視，并成為確保齒輪質(zhì)量的一個關(guān)鍵。開發(fā)具有自主知識產(chǎn)權(quán)的齒輪測量技術(shù)和儀器，滿足我國齒輪制造質(zhì)量檢測的迫切需要，提高國產(chǎn)齒輪儀器在國內(nèi)市場的占有率，是我國齒輪測量儀器制造業(yè)當(dāng)前所面臨的一項重要而緊迫的任務(wù)。1.2研究意義目前，我國齒輪行業(yè)測試儀器和設(shè)備十分缺少，有不少齒輪生產(chǎn)企業(yè)竟然沒有一臺齒輪量儀；有些國有大中型企業(yè)所使用的齒輪量儀，還是國外六七十年代的產(chǎn)品，已遠遠滿足不了技術(shù)發(fā)展的要求。造成這種現(xiàn)象的主要原因是：a. 前幾年齒輪制造業(yè)的發(fā)展以量為主，對質(zhì)的要求尚不迫切，但今后，能否保證齒輪產(chǎn)品的質(zhì)量，是否擁有與產(chǎn)品等級相適應(yīng)的齒輪量儀，將成為企業(yè)能否生存的關(guān)鍵；b.信息溝通不夠，技術(shù)交流偏少是造成我國齒輪生產(chǎn)企業(yè)儀器裝備落后的另外一個原因。許多齒輪生產(chǎn)企業(yè)對國內(nèi)齒輪量儀的發(fā)展了解不夠，對齒輪量儀的性能了解不夠，制約著齒輪量儀進入齒輪生產(chǎn)企業(yè)。事實上，這幾年在齒輪制造業(yè)迅猛發(fā)展的同時，我國齒輪量儀制造水平也經(jīng)歷了跨越式發(fā)展，特別是2000年以來，以3903系列為代表的CNC齒輪測量中心投放市場，標(biāo)志著我國齒輪量儀的制造水平達到了當(dāng)今國際先進水平，基本上可以滿足齒輪行業(yè)對測量儀器的需求。1.3國內(nèi)外發(fā)展?fàn)顩r1 1923年，德國Zeiss公司在世界上首次研究成功一種被稱為“Tooth surface Tester”的儀器，實際上是機械展成式萬能漸開線檢查儀。1965年，英國的45西安工業(yè)大學(xué)學(xué)士學(xué)位論文R.Munro博士研制成功光柵式單嚙儀，標(biāo)志著高精度測量齒輪動態(tài)性能成為可能。1970年，美國Fellow公司在芝加哥博覽會展出Microlog50，標(biāo)志著數(shù)控齒輪測量中心開始投入使用，這是齒輪測量技術(shù)發(fā)展的轉(zhuǎn)折點。70年代以前，機械展成式測量技術(shù)已經(jīng)發(fā)展成熟，并在生產(chǎn)實踐中經(jīng)受了考驗。經(jīng)過30多年的完善和推廣，齒輪整體誤差測量方法在我國已發(fā)展成為傳統(tǒng)元件的運動幾何測量法，其基本思想是將被測對象作為一個剛性的功能元件或傳動元件與另一標(biāo)準(zhǔn)元件作嚙合運動，通過測量嚙合運動誤差來反求被測量的誤差。最近幾年一些新的齒輪測量儀器也在不斷的涌現(xiàn)，在新的齒輪精度國家標(biāo)準(zhǔn)中，齒輪精度的檢測項目有齒距偏差、齒廓偏差、螺旋線偏差、切向綜合偏差、徑向綜合偏差、徑向跳動等項目。這里主要介紹以下幾種最為先進的齒輪測量儀：a. CNC齒輪測量中心3903/3906 3903/3906型CNC齒輪測量中心是哈量集團精密量儀公司開發(fā)出的新產(chǎn)品，具有測量功能強、精度高、速度快等特點，達到了當(dāng)代國際先進水平該中心可滿足用戶對齒輪精度的全面檢測，工藝間檢測、刀具檢測等需求?？赏瓿升X輪的齒距、齒廓 、螺旋線、徑跳、切向綜合（單截面整體誤差）等項目的檢測，可測量的工件有齒輪、齒輪刀具（滾刀、插齒刀、剃齒刀等）、蝸輪、蝸桿、弧齒錐齒輪等。由于其工作原理上不需要標(biāo)準(zhǔn)齒輪、標(biāo)準(zhǔn)蝸桿等標(biāo)準(zhǔn)件和機械展成機構(gòu)，測量運動由計算機數(shù)控系統(tǒng)來完成，因此可以根據(jù)用戶的要求，開發(fā)出各種特殊軟件。整個操作界面漢字提示，操作簡單，對操作人員的要求不高b. PFSU系列齒輪測量機640/1200/16002 該系列測量機是引進德國克林貝格公司技術(shù)生產(chǎn)的，主要用于對大齒輪的測量。目前哈量集團精密量儀公司已經(jīng)完成了該測量機控制系統(tǒng)國產(chǎn)化改造將過時的控制電路、記錄器等全部淘汰，采用新的工業(yè)控制計算機和可編程控制器，改造后的PFSU系列齒輪測量機不僅保留了儀器原有的全部功能，而且使儀器的功能和性能都有很大提升。齒輪的測量項目有齒廓、螺旋線、齒距、徑跳等，還可以測量齒輪刀具（滾刀、插齒刀、剃齒刀等）、蝸桿及工件表面粗糙度、工件錐度、圓度等形位誤差。針對國內(nèi)已有PFSU系列測量機的用戶，公司可提供升級改造服務(wù)。 c. 3004B、3006B、3008B系列萬能齒輪測量機 該系列齒輪測量機是哈量集團具有自主知識產(chǎn)權(quán)的智能化齒輪量儀，在工作原理和儀器功能上接近CNC齒輪測量中心測量中不需要標(biāo)準(zhǔn)齒輪、標(biāo)準(zhǔn)蝸桿，即可測量齒輪、齒輪刀具等工件的多項誤差，在測量效率要求不很高的情況下，可廣泛用于工廠計量室和車間檢測站，進行精密測量。 d. 3100系列雙面嚙合檢查儀 主要檢測齒輪的徑向綜合誤差，可廣泛用于除汽車、摩托車行業(yè)4級以下精度齒輪的分選檢測，工作效率高，精度穩(wěn)定。 e. 3200、3300系列齒形、齒向檢查儀 該系列測量儀是機械展成式測量機根據(jù)測量要求的不同，有多種不同的機械結(jié)構(gòu)，主要完成對齒輪齒形、齒向等單項誤差測量，儀器結(jié)構(gòu)簡單、效率高、精度穩(wěn)定，可廣泛用于生產(chǎn)車間使用。1.4本文的主要任務(wù)本文分析了齒輪誤差測量的發(fā)展?fàn)顩r和特點，針對國內(nèi)外出現(xiàn)的各種測量儀器的局限和不足，提出改進齒輪測量軟件測量齒輪的方法，并設(shè)計完成一種新型的、人機界面友好的，自動化程度較高的齒輪測量軟件。 a. 首先通過對齒輪齒形和齒向測量原理以及齒輪測量機機械部分運動機理的理解，完成總體方案設(shè)計；b. 依據(jù)齒形、齒向測量原理建立齒形、齒向誤差測量算法，并完成齒形誤差軟件的程序流程；c. 針對測量中出現(xiàn)特性和整個界面的易于操作性和美觀性，利用VisualC+6.0編程語言來實現(xiàn)齒形測量系統(tǒng)軟件的設(shè)計；d. 最后對所編寫的測量軟件進行模擬調(diào)試，并進一步肯定了整個測量系統(tǒng)的合理性和實用性。2 齒輪測量原理與總體方案設(shè)計2 齒輪測量原理與總體方案設(shè)計2.1齒輪齒形測量的方法與誤差分析2.1.1齒形誤差的定義3 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)J B179-83規(guī)定，齒形誤差的定義是：在端截面上，齒形工作部分內(nèi)（齒頂?shù)估獠糠殖猓┌輰嶋H齒形的兩條最近的設(shè)計齒形間的法向距離。由定義可知，在齒形誤差測量中應(yīng)測出實際齒形相對于設(shè)計齒形之誤差,設(shè)計齒形是指以漸開線理論齒形為基礎(chǔ)，考慮彈性變形和誤差對噪聲的影響而加以修正的齒形,在成對齒輪副中，可以設(shè)計為兩個齒輪都作齒頂修緣，也可以設(shè)計為一個齒輪（常是小齒輪）作齒頂修緣，齒根過切或設(shè)計為凸齒形，另一個相配的齒輪不作修正,修正量是很小的，僅有（0.01-0.05）m,或從2-3m到30-50m。因此，齒形誤差測量還是以實際齒形與理論漸開線進行比較作為基礎(chǔ)。2.1.2 齒形誤差測量方法a. 坐標(biāo)法 將被測齒形上若干點的實際坐標(biāo)與相應(yīng)的計算坐標(biāo)進行比較從而計算出齒形誤差的方法稱為齒形誤差坐標(biāo)測量法。以坐標(biāo)法測量齒形誤差，既可以在以坐標(biāo)為測量原理所構(gòu)成的專用齒形誤差測量儀上進行，也可以在坐標(biāo)測量機或測量顯微鏡上測量。b. 標(biāo)準(zhǔn)軌跡法 將被測齒形與儀器復(fù)現(xiàn)的理論漸開線軌跡進行比較從而求出齒形誤差的方法稱為齒形誤差的標(biāo)準(zhǔn)軌跡測量法。由于電子和計算機技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了用電子和機械共同組成的系統(tǒng)來復(fù)線理論漸開線軌跡，這種系統(tǒng)可以進行數(shù)控（NC），也可以由計算機進行數(shù)控（CNC），稱這種方法為電子展成法。電子展成法正在發(fā)展中。c. 標(biāo)準(zhǔn)曲線法 這種方法是使被測齒形與標(biāo)準(zhǔn)漸開線齒形曲線直接進行比較，從而測出齒形誤差，（標(biāo)準(zhǔn)漸開線齒形曲線應(yīng)具有一定的準(zhǔn)確度）。這種方法可用于車間條件下的生產(chǎn)測量，也可用于高準(zhǔn)確度的實驗室測量。本文采用標(biāo)準(zhǔn)軌跡法進行齒形與齒向的測量。2.1.3齒形測量范圍的確定4 a. 確定起測圓的方法(1).按與配對齒輪對嚙合的工作確定：當(dāng)被測齒輪Z1配對齒輪Z2相嚙合時，被測齒輪Z1的實際部分是齒頂圓與工作圓之間的一段漸開線齒形。所謂工作圓是指通過相嚙合的齒輪Z2的齒頂圓與嚙合線的交點a1。,其半徑為RA1的圓 如西安工業(yè)大學(xué)學(xué)士學(xué)位論文圖2.1a , 圖2.1 齒輪漸開線 Ra1的計算如下:Ra1= （2.1） （2.2）其中 （2.3） （2.4） （2.5）式中Xt,Xn-端面和法向變位系數(shù); -法向齒頂高降低系數(shù),高度變位時=0,角度變位時0。 （2.6） （2.7） （2.8）式中-端面齒頂高將位系數(shù); -端面中心距變動系數(shù).(2).按與標(biāo)準(zhǔn)齒條的工作圓確定：由于在測量單位個齒輪時，常常不知與其嚙合的齒輪的參數(shù)，為使測量的齒形工作部分稍大于齒形有效部分，可以按照被測齒輪與標(biāo)準(zhǔn)齒條嚙合時的有效工作部分來計算其工作圓。此時工作圓是指通過齒條的齒頂線與嚙合線的交點a2,其半徑為RA2的圓，如圖2.1b所示。RA2的計算如下： （2.9） （2.10）(3).按進入圓確定：為了簡化計算，可以按進入圓來確定起測點。進入圓是指其半徑RA3與分度圓半徑相差C=(ha*-xs)ms的圓 如圖2.1c所示.RA3由下式計算: RA3=(mn*z/2cos)-C （2.11） C=hn*mn-Xnmn （2.12）當(dāng)齒數(shù)少時按基圓確定：當(dāng)齒數(shù)Z33時；rbRA3；當(dāng)Z16時，rbRA2。因為只在基圓外才有漸開線，當(dāng)齒數(shù)少時，應(yīng)該以基圓作為起測圓。以上三種計算結(jié)果相比較,RA1RA2RA3,當(dāng)起測圓按進入圓計算時,齒形上被測范圍為最大,這將對切齒條件要求嚴(yán)格.如果測量高精度齒輪時,應(yīng)當(dāng)選RA1來確定起測圓,以免對加工條件要求過嚴(yán).對非特殊要求的齒輪可按RA2確定起測圓.b. 起測和終測展開角和展開長度的計算5由于齒形測量是按照展成角度或展開長度進行的，實際的測量范圍是以展成角或展成長度來表示的。如圖2.2所示 起測點A所對應(yīng)的展開角與展開長度稱為起測展開角A與起測展開長度LA.終測點B所對應(yīng)的為終測展開角B,終測展開長度LB. A與LA根據(jù)起測圓半徑RA計算: A= （2.13）LA= （2.14） （2.15）RA根據(jù)選用的RA1,RA2或RA3代入上式B與LB一般按齒頂圓作為終測圓計算:B= （2.16）LB= （2.17）2.1.4 齒形誤差評定與分析 a. 齒形誤差的評定用齒形誤差曲線圖表示齒形誤差。曲線圖的橫坐標(biāo)表示展開角度或展開長度L，縱坐標(biāo)表示個測量點的齒形誤差ffi（即展開長度的誤差Li），見圖2.1。如果被測齒形與理論漸開線沒有差別，在記錄圖上記錄為平行于橫坐標(biāo)的直線。在確定了齒形測量范圍（A、B）之后，在此范圍內(nèi)作兩條平行線分別與齒形誤差曲線的上下兩個最高點相切，平行線間的縱坐標(biāo)格數(shù)乘以誤差放大比即可得到齒形誤差ff。為了反映齒輪偏心等因素的影響，測量均布的四個齒面的齒形誤差，以期最大值作為該齒輪的齒形誤差，用來評定該齒輪的齒形質(zhì)量是否合于要求。b. 齒形誤差的分析對方程式L=b=(mzcos/2)全微分并取增量形式，可得 L=b+b （2.18） 或 L=-b。 （2.19） 展開長度的變化就是齒形誤差，有上式可以看出，基圓半徑的變化b或壓力角的變化都是影響齒形誤差的因素，其主要的工藝原因是刀具的齒形角有誤差。由于齒形角誤差在一般情況下可以認為是定值，所以，L與的關(guān)系是線性關(guān)系。如果沒有其他的誤差因素，僅有由于齒形角誤差所造成的壓力角誤差，齒形誤差的記錄曲線是一條與橫坐標(biāo)有一定夾角的傾斜直線。由以上分析可知，齒形誤差由兩部分組成：由壓力角誤差（或基圓半徑誤差b）引起的漸開線齒形的傾斜誤差ff,以齒形誤差曲線的中線Cc在測量范圍內(nèi)相對于橫坐標(biāo)的最大偏移量來度量；由機床傳動鏈誤差引起的漸開線齒形的形狀誤差ffx，沿中線Cc的方向左兩條能包容齒形誤差曲線的平行線，它們之間沿著橫坐標(biāo)的距離即為ffx。圖2.2 齒形誤差分析 c. 確定中線cc的方法 為了求出f和fx的數(shù)值，首先要確定中線cc的位置。(1).計算法：根據(jù)最小二乘法原理求出齒形誤差曲線的擬合直線即為中線。表征直線方程的參數(shù)為直線的斜率,計算擬合直線的斜率K的方法為:在測得的曲線上取一系列點的坐標(biāo)值(1, L1 ),(2, L2 )(i,Li), 斜率計算式為: （2.20） 式中 Li： i點的展開長度增量； 、分別為及的平均值； n: 測量點的總數(shù)。這種方法的精度高，但計算較為復(fù)雜，一般為手工計算所不用，當(dāng)測量系統(tǒng)由計算機控制和進行數(shù)據(jù)處理時常常用這種方法，這時可由測出的各個坐標(biāo)值直接進行計算。(2).作圖法：對于一般精度的測量，常常用目估作圖法確定中線。即在所得的齒形誤差曲線圖上畫一條直線，使在測量范圍內(nèi)，直線兩邊的齒形誤差曲線與直線間所包容的面積相等，這條直線就是中線cc。 這種方法精度不高，但簡單易性。而且目估的方向，對于一個熟練的測量者來說也不會偏離最小二乘法所確定中線的2度的范圍，這是測量精度所允許的。d. 基圓半徑誤差rb由式(2.18)的前一項可以知道,當(dāng)僅有基圓半徑誤差rb時,齒形誤差曲線是一條與橫坐標(biāo)有夾角的直線,由計算法求出中線的斜率即為基圓半徑誤差: rb=K （2.21）由作圓法確定中線后可以在曲線上直接量出傾斜誤差fa,這時由下式計算基圓半徑誤差: rb=fa/ab （2.22）式中 fa-曲線圖中傾斜誤差的坐標(biāo)值,單位為m; ab-曲線圖中測量范圍內(nèi)展開角,單位為rab; Rb-基圓半徑,單位m.2.2齒輪齒向測量的方法與誤差分析2.2.1齒向誤差的定義在分度圓柱面（允許在齒高中部測量）上，齒寬工作部分范圍內(nèi)（端部倒角部分除外）包容實際齒向線的兩條最近的設(shè)計齒向線之間的端面距離。2.2.2齒向誤差測量方法(1). 標(biāo)準(zhǔn)軌跡法 測量儀器形成標(biāo)準(zhǔn)的螺旋運動與被測齒輪的螺旋線進行比較測量，齒向誤差直接由測量裝置指示出來。形成標(biāo)準(zhǔn)的螺旋線軌跡的裝置可以是機械式的、光學(xué)機械式的，也可以是電子展成式的。(2). 坐標(biāo)測量法螺旋線是一條空間曲線，可按照螺旋線形成原理分別測量齒輪轉(zhuǎn)角和測頭齒輪方向的位置，然后與相應(yīng)的理論值進行比較，計算出齒輪向的誤差；或者按照空間直角坐標(biāo)沿螺旋線逐點測量其三個坐標(biāo)值，然后計算出齒向誤差。2.2.3齒向誤差評定與分析齒向誤差在一般情況下是由兩部分組成的，即齒向線的位置誤差和形狀,如下圖2.3所示。齒向線的位置誤差也就是螺旋線角誤差的線值，用fh來表示。確定fh數(shù)值時要用最小二乘法回歸出一條中線，在要求不十分精確的情況下也可以用作圖法使中線兩邊曲線多包圍的面積相等來確定中線的位置。包容實際齒向誤差曲線且與中線平行的兩條直線之間的距離（仍為齒輪端面距離，在F方向計算）即為形狀誤差，用fh來表示。將齒向誤差分為位置誤差和形狀誤差將有助于分析齒向的加工誤差。由fh即可以求的螺旋角的誤差，因為 tg=r/b (2.23)將此式微分并取增量形式，且（r）=fh，則 =(fh/b) cos*cos (2.24)式中b-齒寬工作部分。圖2.4給出了兩種典型的齒向誤差曲線。圖a是左、右齒面的齒向線位置誤差fh數(shù)值相近而符號相同（偏向齒體內(nèi)的誤差為負值），其螺旋角誤差方向相反，主要是由于加工時刀具沿著工件軸線方向進給時，刀具的運動方向與工件軸線方向不平行所引起的，其不平行度由左、右齒面的齒向線位置誤差的平均值來確定的，即： =（fhL+fhR）/2tga (2.25)圖2.4是左、右齒面的齒向線位置誤差fh的數(shù)值相近而符號相反，即左、右齒面螺旋角誤差方向相同的情況。這主要是由于刀具軸向進給方向相對于工件軸線傾斜所造成的，其傾斜度按左、右齒面齒向線位置誤差的絕對值之平均值來確定，即：=fhL+fhR/2 （2.26）工件的安裝誤差也會造成工件軸線相對于刀具軸向進給方向傾斜，而且二者相對的傾斜度是工件轉(zhuǎn)角的函數(shù)，這就導(dǎo)致一個齒輪上各個齒的齒向誤差數(shù)值不同。圖2.3齒向誤差評定法圖2.4齒向誤差曲線由于機床傳動鏈的傳動比不準(zhǔn)確也會造成fh的值相近而異號的誤差，因此在分析工藝誤差的時候要結(jié)合具體加工條件進行分析。當(dāng)左、右齒面的齒向誤差曲線較大，fhL的值也相差較大，則是兼有幾種工藝誤差因數(shù)的綜合作用，可先找出主要工藝誤差因數(shù)，再按照任一齒面的fh值對兩齒面fh的平均值之間來估算其它工藝誤差的因數(shù)。齒向誤差的形狀誤差 ff 是由于切齒加工中刀具相對于工件軸線移動的導(dǎo)軌的直線度誤差及軸向進給絲杠的軸向竄動等因數(shù)所引起。2.3 總體方案設(shè)計 本設(shè)計采用標(biāo)準(zhǔn)軌跡法進行齒輪齒形齒向的誤差測量，將被測齒輪的實際齒形與儀器復(fù)現(xiàn)的理論漸開線進行比較從而得出誤差的測量方法，運動的合成經(jīng)參數(shù)設(shè)置完成后計算機自動進行計算，控制控制系統(tǒng)發(fā)出指令脈沖，驅(qū)動執(zhí)行機構(gòu)完成相應(yīng)的運動，硬件數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)從安裝在滑架上的測頭采集數(shù)據(jù)，送入計算機進行計算，得出誤差結(jié)果，轉(zhuǎn)化為圖形和數(shù)字量形式的結(jié)果輸出。根據(jù)系統(tǒng)的特點，對軟件的編寫擬采用可視化編程語言Visual C+6.0進行開發(fā)，因為該語言執(zhí)行速度快，人機界面友好，具有較高的操作系統(tǒng)訪問權(quán)。齒形測量程序設(shè)計時主要完成齒形測量中的數(shù)據(jù)采樣和結(jié)果的處理，并根據(jù)測量算法得到齒廓總偏差、齒廓斜率偏差、齒廓形狀偏差和齒廓誤差曲線，通過對齒形誤差測量方法的分析并結(jié)合機械部分運動機理，齒形誤差測量的理論方方法采樣坐標(biāo)法；齒向測量程序設(shè)計時主要完成齒向測量中的數(shù)據(jù)采樣和結(jié)果的處理，并根據(jù)測量算法得到齒向總偏差F、齒向斜率偏差fh、齒向形狀偏差ff和齒向誤差曲線，通過對齒形誤差測量方法的分析并結(jié)合機械部分運動機理，齒向誤差測量的理論方方法采樣標(biāo)準(zhǔn)軌跡法。最后所有的誤差結(jié)果以文字和圖形的方式顯示在屏幕上，而且用戶的所由參數(shù)以對話框的形式由用戶通過鍵盤輸入。3 板卡操作3 板卡操作3.1接口方案6 綜合考慮此設(shè)計，計算機需要完成如下任務(wù):a.從控制面板讀鍵產(chǎn)生相應(yīng)動作，當(dāng)測量者按下操作面板的按鍵時，計算機要能對其識別并發(fā)出指令，驅(qū)動系統(tǒng)動作完成測量，為此，測量系統(tǒng)需要一個開關(guān)量輸入設(shè)備；b.由于計算機只能對數(shù)字量進行處理，而數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集到的信號為電壓模擬信號，因此在計算機與數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)之間需要一塊 A/D轉(zhuǎn)換卡，本設(shè)計中采用北京華遠自動化公司的HY6040A/D轉(zhuǎn)化卡、HY 6110數(shù)字量輸入卡，光柵數(shù)據(jù)采集卡選用CA220 -PCI，其中前兩個板卡為ISA接口，設(shè)計中采用Ntport library軟件，它允許win32程序?qū)崟r直接訪問pc機的i/o端口而無須使用windows drivers development kit(ddk) 或其他工具。Ntport library支持windows 95/98 和windows nt/2000/xp。并且非常容易使用，在windows nt/2000/xp下，ntport library 驅(qū)動程序可以動態(tài)地加載和卸載，不需要做任何設(shè)置工作。ntport library也是basic的inp或out命令的替代品。ntport library還可以獲得lpt端口的基地址。而PCI-CA220是基于PCI總線的采集卡，PCI總線系統(tǒng)要求有一個PCI控制卡，它必須安裝在一個PCI插槽內(nèi)。根據(jù)實現(xiàn)方式，PCI控制器可以與一次交換32位或64位數(shù)據(jù)，它允許智能PCI輔助適配器利用一種總線主控技術(shù)與CPU并行地執(zhí)行任務(wù)。3.2 HY6040板卡介紹及操作7HY6040板是一種光電隔離型的多功能A/D板，它有三種不同的觸發(fā)方式：軟件觸發(fā)、定時觸發(fā)和外部觸發(fā)。本設(shè)計采用軟件觸發(fā)，主要操作步驟如下：(1). 對“BASE+4”口進行讀操作，清除A/D完成位，避免引起系統(tǒng)誤操作。 (2). 對“BASE+1”口進行寫操作，選擇模擬輸入通道和程控增益。 (3). 對“BASE+0”口進行寫操作，關(guān)閉定時觸發(fā)、外觸發(fā)。 (4). 對“BASE+2”口進行寫操作，觸發(fā)A/D轉(zhuǎn)換。 (5). 從“BASE+0”口進行讀操作，讀取板狀態(tài)字，檢測A/D的轉(zhuǎn)換完成位 是否為“1”。 (6). 當(dāng)A/D轉(zhuǎn)換完成位為“1”后，延時大約25s。 (7). 從“BASE+3”和“BASE+4”口讀取轉(zhuǎn)換結(jié)果。 軟件在查詢方式下，用戶編程自行決定在檢測到A/D轉(zhuǎn)換完成后延時多長時間，才讀取A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果。對應(yīng)部分程序代碼如下 _outp(base_ad+2,0); /讀基地址+2位，是否啟動A/D轉(zhuǎn)換 _inp(base_ad+3); /讀A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果低8位 _inp(base_ad+4)&0x0f; /讀A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果高4位 int mydata=ldata|(hdatan2?N=（n1n2）/2nm=n1-n2+1取n點對應(yīng)的誤差計算每個采樣點誤差和n點對應(yīng)的誤差的偏差求所有偏差的和除以nm得到總偏差對nm個點根據(jù)最小二乘法確定中線c的斜率k和在y軸的截距由ykxb及實際采樣點處的偏差求形狀偏差和斜率偏差返回計算結(jié)果及測量值返 回圖4.8 數(shù)據(jù)處理程序流程圖4.5.3 數(shù)據(jù)采樣流程及部分程序代碼 初始化給6040基地址+2寫控制程序讀基地址控制變量Y&0X40=1?讀基地址+3的數(shù)據(jù)送給Ldata送給Ldata 讀基地址+4的數(shù)據(jù)送給HdataLdata+(Hdata8)送給datadata=data-2047data=data*400/1000/4096 data=data*400/1000/4096data=data*400/1000/4096data=data*400/1000/4096 返回data圖4.9 采樣函數(shù)流程圖采樣函數(shù)程序代碼如下12：double Sample(int n_channel) inty=0;int i=0; /采樣_outp(base_ad+2,0); /寫控制字觸發(fā)A/D轉(zhuǎn)換doy=_inp(base_ad); /讀基地址while(!(y&0x40); /檢測A/D轉(zhuǎn)化是否完成int ldata=_inp(base_ad+3); /讀A/D轉(zhuǎn)換低8位int hdata=_inp(base_ad+4)&0x0f; /讀A/D轉(zhuǎn)換高4位int mydata=ldata|(hdata8); /得到采樣數(shù)據(jù)送入dataint mydata0=mydata-2047;double sample=0;sample=400;/AD分辨率 400um/10v double data=mydata0*sample/1000/4096; /數(shù)據(jù)運算return data;4.5.4 按鍵掃描流程圖設(shè)計 初始化KEY=0讀6110值 賦Nowintdat i=0 Nowintda&(o012*)Key=i i+i4?i=8Nowintdat&(0x012*i) data=data*400/1000/4096data=data*400/1000/4096data=data*400/1000/4096Key=ii10?Key=i 結(jié)束圖4.10 按鍵掃描流程圖由于整個測量軟件要根據(jù)輸入按鍵的狀態(tài)決定什么時候開始測量，具體測量什么項目什么時候測量結(jié)束，開始測量時要控制電機帶動運動部件按要求軌跡運