通用電子元件進料檢驗規(guī)范.doc
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通用電子元件進料檢驗規(guī)范 (一) 貼片元件檢驗規(guī)范(電容,電阻,電感) 1. 目的 便于IQC人員檢驗貼片元件類物料。 2. 適用范圍 適用于本公司所有貼片元件(電容,電阻,電感…)之檢驗。 3. 抽樣計劃 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。 4.允收水準(AQL) 嚴重缺點(CR): 0; 主要缺點(MA): 0.4; 次要缺點(MI): 1.5; 5. 參考文件 《LCR數字電橋操作指引》 《數字萬用表操作指引》 檢驗項目 缺陷屬性 缺陷描述 檢驗方式 備注 包裝檢驗 MA a.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是 否都正確,任何有誤,均不可接受。 b.包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。 目檢 數量檢驗 MA a.實際包裝數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受; 實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接受。 目檢 點數 外觀檢驗 MA a. Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受; b. 來料品名錯,或不同規(guī)格的混裝,均不可接受; c. 本體變形,或有肉眼可見的龜裂等不可接受; d. 元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔,其面積不超過0.5mm2,且未露出基質, 可接受;否則不可接受; e. Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受; 目檢 10倍以上的放大鏡 檢驗時,必須佩帶靜電帶。 電性檢驗 MA 元件實際測量值超出偏差范圍內. LCR測試儀 數字萬用表 檢驗時,必須佩帶靜電帶。 二極管類型 檢 測 方 法 LED 選擇數字萬用表的二極管檔,正向測量,LED需發(fā)出與要求相符的顏色的光,而反向測量不發(fā)光;否則該二極 管不合格。 注:有標記的一端為負極。 其它二極管 選擇數字萬用表的二極管檔,正向測量,讀數需小于1,而反向測量讀數需無窮大;否則該二極管不合格。 注:有顏色標記的一端為負極。 備注 抽樣計劃說明:對于CHIP二極管,執(zhí)行抽樣計劃時來料數量以盤為單位,樣本數也以盤為單位;從抽檢的每 盤中取3~5pcs元件進行檢測;AQL不變。檢驗方法見"LCR數字電橋測試儀操作指引"和"數字萬用表操作指 引"。 (二) 插件用電解電容. 1. 目的 作為IQC人員檢驗插件用電解電容類物料之依據。 2. 適用范圍 適用于本公司所有插件用電解電容之檢驗。 3. 抽樣計劃 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。 4.允收水準(AQL) 嚴重缺點(CR): 0; 主要缺點(MA): 0.4; 次要缺點(MI): 1.5; 5. 參考文件 《LCR數字電橋操作指引》、 《數字電容表操作指引》。 檢驗項目 缺陷屬性 缺陷描述 檢驗方式 備注 包裝檢驗 MA a.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。 目檢 數量檢驗 MA a. 實際包裝數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受; b. 實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接 受。 目檢 點數 外觀檢驗 MA a.極性等標記符號印刷不清,難以辨認不可接受; b.電解電容之熱縮套管破損、脫落,不可接受; c.本體變形,破損等不可接受; d.Pin生銹氧化,均不可接受。 目檢 可焊性檢驗 MA a.Pin上錫不良,或完全不上錫不可接受。(將PIN沾上現使 用之合格的松香水,再插入小錫爐5秒鐘左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫;如果不是則拒收) 實際操作 每LOT取5~10PCS在 小錫爐上驗 證上錫性 尺寸規(guī)格檢驗 MA a. 外形尺寸不符合規(guī)格要求不可接受。 卡尺 若用于新的Model,需在PCB上對應的位置進行試插 電性檢驗 MA a. 電容值超出規(guī)格要求則不可接受。 用數字電容表或LCR數字電橋測試儀量測 (三) 晶體類檢驗規(guī)范 1. 目的 作為IQC人員檢驗晶體類物料之依據。 2. 適用范圍 適用于本公司所用晶體之檢驗。 3. 抽樣計劃 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。 4. 允收水準(AQL) 嚴重缺點(CR): 0; 主要缺點(MA): 0.4; 次要缺點(MI): 1.5; 5. 參考文件 《數字頻率計操作指引》 檢驗項目 缺陷屬性 缺陷描述 檢驗方式 備注 包裝檢驗 MA a.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否都 正確,任何有誤,均不可接受。 目檢 數量檢驗 MA a. 實際包裝數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受; b. 實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接 受。 目檢 點數 外觀檢驗 MA a.字體模糊不清,難以辨認不可接受; b.有不同規(guī)格的晶體混裝在一起,不可接受; c. 元件變形,或受損露出本體等不可接受; d. Pin生銹氧化、上錫不良,或斷Pin,均不可接受。 目檢 每LOT取5~10PCS在小錫爐上驗證上錫性 電性檢驗 MA a.晶體不能起振不可接受; b.測量值超出晶體的頻率范圍則不可接受。 測試工位 和數字頻率計 電性檢測方法 晶體 檢 測 方 法 32.768KHz 16.934MHz 25.000MHz 在好的樣板的相應位置插上待測晶體, 再接通電源開機; 在正常開機后,用調試好的數字頻率計測量晶體,看 測量的頻率是否在規(guī)格范圍內,若不能開機或測量值不在規(guī)格范圍內,則該晶體不合格。 24.576MHz 在好的樣板的相應位置插上待測晶體、CPU、內存條等,再接通電源開機,看能否正常開機顯示;在正常開機 顯示后,用調試好的數字頻率計測量晶體,看測量的頻率是否在規(guī)格范圍內,若不能開機顯示或測量值不在規(guī) 格范圍內,則該晶體不合格。 (四) 三極管檢驗規(guī)范 1. 目的 作為IQC人員檢驗三極管類物料之依據。 2. 適用范圍 適用于本公司所有三極管之檢驗。 3. 抽樣計劃 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。 4. 允收水準(AQL) 嚴重缺點(CR): 0; 主要缺點(MA): 0.4; 次要缺點(MI): 1.5; 5. 參考文件 無 檢驗項目 缺陷屬性 缺陷描述 檢驗方式 備注 包裝檢驗 MA a. 根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。 b. 包裝必須采用防靜電包裝,否則不可接受。 目檢 數量檢驗 MA a. 實際包裝數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受; b. 實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接 受。 目檢 點數 外觀檢驗 MA a.Marking錯或模糊不清難以辨認不可接受; b.來料品名錯,或不同規(guī)格的混裝,均不可接受; c.本體變形,或有肉眼可見的龜裂等不可接受; d.元件封裝材料表面因封裝過程中留下的沙孔,其面積不超 過0.5mm2,且未露出基質, 可接受;否則不可接受; e.Pin氧化生銹,或上錫不良,均不可接受。 目檢 10倍以上的放大鏡 檢驗時,必須佩帶靜電帶。 (五)排針&插槽(座)類檢驗規(guī)范 1. 目的 作為IQC人員檢驗排針&插槽(座)類物料之依據。 2. 適用范圍 適用于本公司所有排針&插槽(座)之檢驗。 3. 抽樣計劃 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。 4. 允收水準(AQL) 嚴重缺點(CR): 0; 主要缺點(MA): 0.4; 次要缺點(MI): 1.5; 5. 參考文件 無 檢驗項目 缺陷屬性 缺陷描述 檢驗方式 備注 包裝檢驗 MA 根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。 目檢 數量檢驗 MA a. 實際包裝數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受; 實際來料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接受。 目檢 點數 外觀檢驗 MA a. Marking錯或模糊不能辯認; b. 塑料與針腳不能緊固連接; c.塑料體破損,體臟,變形,明顯色差,劃傷,縮水; d.過錫爐后塑料體外觀變色,變形,脫皮; e.針腳擰結,彎曲,偏位, 缺損,斷針或缺少; f.針腳高低不平、歪針、針氧化、生銹; g.針腳端部成蘑菇狀影響安裝. 目檢 焊錫性檢驗 MA a. PIN上錫不良,或完全不上錫,均不可接受;(將零件腳插入 現使用之合格松香水內,全部浸潤,再插入小錫爐5秒鐘 左右后拿起觀看PIN是否100%良好上錫;如果不是則拒收) 實際操作 每LOT取5~10PCS在小錫爐上驗證上錫性 安裝檢驗 MA a.針腳不能與標準PCB順利安裝; b.針腳露出機板長度小于0.5mm或大于2.0mm; 卡尺 針腳露出機板長度的標準為0.5mm~2.0mm范圍內。 (六)CABLE類檢驗規(guī)范 1. 目的 作為C人員檢驗CABLE類物料之依據。 2. 適用范圍 適用于本公司所有CABLE類之檢驗。 3. 抽樣計劃 依MIL-STD-105E,LEVEL II正常單次抽樣計劃;具體抽樣方式請參考《抽樣計劃》。 4. 允收水準(AQL) 嚴重缺點(CR): 0; 主要缺點(MA): 0.4; 次要缺點(MI): 1.5; 5 參考文件 無 檢驗項目 缺陷屬性 缺陷描述 檢驗方式 備注 包裝檢驗 MA a.根據來料送檢單核對外包裝或LABEL上的P/N及實物是否 都正確,任何有誤,均不可接受。 目檢 數量檢驗 MA a. 數量與Label上的數量是否相同,若不同不可接受; b. 料數量與送檢單上的數量是否吻合,若不吻合不可接受。 目檢 點數 外觀檢驗 MA a.五金件變形、劃傷、生銹、起泡、發(fā)黃或其它電鍍不良; b.塑料體變形、劃傷、毛邊、破(斷)裂、異色等不良; c.排線破損、斷裂、變形、異色、露銅絲、切口不齊等均不 可接受; d.排線與支架等組裝不牢,易松脫; e.標識CABLE接插方向的顏色不能明確分辯; f.排線接頭的顏色不符合規(guī)格要求; g.排線表面的絲印錯. 1.目檢 2.按前后左右上下各輕搖3次排線接頭處,看有無松脫現象 參考Mechanical Drawing of Cable 尺寸檢驗 MA a.長度不符合規(guī)格要求不可接受. 卷尺 尺寸參考Mechanical Drawing of Cable 電性測試檢驗 MA a.排線的接線方式錯不可接受; b.排線接觸不良或不能運行不可接受; c.IDE排線的傳輸速率不符合要求不可接受. 每批取10pcs送QA,請QA的同事幫助測試 拉力測試檢驗 MA a. 與公端對插,插拔力不符合規(guī)格要求的不可接受.( 拉力測 試:用標準Box Header與排線對插好,用拉力計測出其 CABLE完全被拉出后的最大拔出力。) 實際操作 備注 1.要求如下(低于20PIN 的不作要求): 80PIN:4.0~7.0Kgf; 40PIN:3.5~6.0kgf : 34PIN:3.0~5.0kgf ;26PIN:2.0~4.0kgf ;20PIN:1.4~3.4kg 2.接插CABLE要輕插,不可插壞主板之插座; 3.測拉力時,必需沿水平方向拔出,如果拉拔力均不符合要求,須重測三次;如有一次符合,則此CABLE拉拔 力合格;如三次均不符合要求,需轉換另一BOX HEADER (可連續(xù)轉換三次新的BOX HEADER),以同樣的 方式測試。更換三次后仍不符合,則拒收退貨。- 配套講稿:
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- 特殊限制:
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- 關 鍵 詞:
- 通用 電子元件 進料 檢驗 規(guī)范
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